Bruker AXS - EMA

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EDS、EBSD、SEMマイクロXRF用の高度な検出器を搭載した電子顕微鏡分析装置シリーズ

電子顕微鏡用分析装置

当社のSEM搭載型EDS、EBSD、およびマイクロXRFシステムは、電子顕微鏡を用いて材料の組成および構造に関する包括的な分析を行い、高度な用途に対応するため、業界をリードする革新的な検出器を搭載しています。

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技術サービス、消耗品の購入、サービス訪問、契約およびトレーニングについては、X 線回折、3D X 線顕微鏡、および元素分析装置のカスタマーサポートセンターにお問い合わせください。

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