Dimension_Icon_AFM-Raman_527x245px.png

AFM de rendimiento superior con capacidad micro-Raman colocalizada

Incorporación de la AFM líder en el sector y del microscopio Raman confocal para investigación en una única plataforma.

Con la introducción de la capacidad integrada de espectroscópica Raman, la plataforma Dimension Icon® de Bruker vuelve a establecer un nuevo estándar en la caracterización de superficies de alto rendimiento que permite realizar mediciones colocalizadas con una eficacia y una facilidad incomparables. El sistema Icon AFM-Raman combina técnicas complementarias de microscopía de fuerza atómica y microscopía Raman con el objetivo de proporcionar información esencial en la composición topográfica y química de una muestra.

La optimización de estas técnicas con modos avanzados de AFM, tales como la exclusiva caracterización eléctrica PeakForce TUNA™ y el mapeo nanomecánico cuantitativo PeakForce QNM®, ambos de Bruker, ayudan a la mejor comprensión por parte de los investigadores de los mecanismos que conllevan, a propiedades específicas de materiales.

Request More Information about the Dimension Icon-Raman

Related Information