ATOMIC FORCE MICROSCOPE

Dimension Icon-Raman

라만 분광법 결합된 고성능 AFM

하이라이트

Dimension Icon-Raman

Icon AFM-Raman 시스템은 원자력 현미경 검사법과 라만 현미경 검사법을 결합하여 샘플의 지형과 화학적 구성 모두에 대한 중요한 정보를 제공합니다. 이러한 기술은 브루커 전용 PeakForce TUNA™ 전기 특성화 및 PeakForce QNM® 정량적 나노 기계 매핑과 같은 고급 AFM 모드로 더욱 강화되면 연구자들은 특정 재료 특성을 유발하는 메커니즘을 더 잘 이해할 수 있습니다.

상관관계
AFM 및 u-Raman 데이터
타의 추종을 불허하는 효율성과 용이성으로 co-localized 측정을 가능하게 합니다.
고급
AFM 모드
연구원들이 특정 재료의 특성으로 이어지는 메커니즘을 더 잘 이해할 수 있도록 도와줍니다.
증명
Dimension Icon 플랫폼
micro-Raman 연구 역량을 위한 새로운 성능 표준을 설정합니다.

특징

기능

구성 안정성 및 유연성

Dimension Icon® AFM과 연구 등급의 공초점 라만 현미경(Horiba,LabRam)으로 구성된 AFM-Raman 시스템은 견고한 단일 진동방지 플랫폼에 있습니다. 이 구성을 통해 시스템은 각 개별 계측기의 전체 기능을 유지 관리하여 최적의 결합 성능을 제공합니다. 예를 들어, 이 구성을 통해 Icon 업그레이드, AFM 모드 및 브루커 전용 ScanAsyst® 포함한 사용 편의 기능을 완벽하게 보완할 수 있습니다. 가장 효과적인 모드 조합을 응용 프로그램에 맞게 조정할 수 있습니다.

층이 있는 폴리스티렌/폴리프로필렌 구조(이미지 크기 40μm x 40μm)의 단면적 지형(왼쪽), young’s modulus (가운데) 및 Raman map (오른쪽)을 보여주는 일련의 이미지. PeakForce QNM은 샘플의 탄력/강성에 대한 정량적 정보를 제공합니다. 대비의 변화는 폴리 프로필렌 (밝음)에 비해 폴리스티렌 (어두움)의 탄성 상수가 더 높기 때문입니다. 이에 비해, Raman map은 다른 화학 성분(녹색의 폴리스티렌, 빨간색의 폴리프로필렌)의 영역을 명확하게 나타내며, 방법의 우수한 상관관계를 나타낸다.

원활한 기술 및 분석 통합

AFM 측정 위치의 Dimension Icon-Raman. 고분자 혼합물에 대한 정량적 나노 기계적 데이터를 수집한다.

몇 초 안에 방해없이 두 기술 간에 샘플은 전송될 수 있습니다. 동일한 샘플 영역의 AFM 및 분광 측정은 기능의 정렬 불량 또는 부정확한 위치의 위험 없이 연속적으로 수행됩니다. 라만 매핑 및 이미징 결과는 브루커의 강력한 현미경 오버레이 소프트웨어인 MIRO®사용하여 AFM 이미지와 쉽게 상호 연관될 수 있습니다. 데이터 세트(지형, 계수 및 접착 맵)는 검사된 표면적의 포괄적인 상관 관계 정보를 제공하기 위해 화학 분포도와 겹쳐질 수 있습니다.

응용

AFM 모드

AFM 모드로 애플리케이션 확장

타의 추종을 불허하는 이미징 모드 제품군을 갖춘 Bruker는 모든 연구를 위한 AFM 기술을 보유하고 있습니다.

핵심 이미징 모드(Contact Mode와 Tapping Mode)의 근본을 기반으로 구축된 Bruker는 사용자가 샘플의 전기적, 자기적 또는 재료 특성을 조사할 수 있는 AFM 모드를 제공합니다. Bruker의 혁신적인 새로운 PeakForce Tapping 기술은 지형, 전기 및 기계적 특성 데이터를 병렬로 제공하는 여러 모드에 통합된 새로운 핵심 이미징 패러다임을 나타냅니다.

추가 정보

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