M4 TORNADO, 2D µ-XRF, Ultimate Speed and Accuracy

Rendimiento analítico

El rendimiento analítico de los instrumentos de Micro-XRF depende de las condiciones de medición. Los parámetros deben ser seleccionados cuidadosamente según la tarea requerida:

 

Resolución espacial

La resolución espacial de una medición sensible a la posición está influenciada por diferentes factores como el tamaño de punto focal, el tamaño de paso y la intensidad medida.

Tamaño de punto focal
El tamaño de punto focal es uno de los principales factores que influye en la resolución espacial de las imágenes. Normalmente se mide con el método del filo del cuchillo. Esta técnica mide la intensidad de haz en función de la posición mientras se realiza un escaneo de línea a lo largo del filo de un material.

Tamaño de paso
Otros factores que influyen en la resolución espacial de las imágenes de distribución de elementos son el tamaño de píxel y el contraste entre píxeles. En Micro-XRF, el tamaño de píxel está determinado no solo por el tamaño del punto focal sino también por el tamaño de paso. La resolución espacial mejora cuando el tamaño de paso es menor que el tamaño del punto focal. Por otro lado, un nivel mínimo de intensidad es necesario para obtener un buen contraste entre píxeles vecinos. La intensidad de píxel se puede cambiar variando el tiempo de adquisición por píxel. De acuerdo con esto, el tamaño de paso y la intensidad de píxel deben ser optimizados para un tamaño de punto focal determinado.

 

 

Límites de detección

La sensibilidad de Micro-XRF es parecida a la de XRF por dispersión de energías convencional (ED-XRF). Está determinada por la probabilidad de excitación del analito y la razón pico-fondo. Al medir con Micro-XRF, hay que tener en cuenta la función de transmisión de la óptica de rayos X, además del espectro del tubo. Esto influye en el límite de detección (LOD) de elementos con energías excitación altas y bajas. Los límites de detección son bajos si se comparan con los de ED-XRF convencional.

 

Detección de elementos ligeros

Los elementos ligeros tienen una energía de fluorescencia baja, para la cual la absorción es elevada, incluso en aire. Por ello, la medición de estos elementos debería realizarse en el vacío.

M4_Si_peak.jpg
Comparing the height of a Si peak under vacuum (blue) and in air (red)

Descargue el informe de laboratorio completo XRF 442 (PDF, inglés)