Diffraction des rayons X (DRX)

DIFFRAC.LEPTOS

LEPTOS est une suite logicielle complète pour l’évaluation des données de réflectométrie des rayons X (XRR), de diffraction des rayons X haute résolution (HRXRD), de diffusion des rayons X en incidence rasante (GISAXS) et de contrainte résiduelle (RS).

Faits marquants

Progiciel complet pour la recherche sur les matériaux

La réflectométrie des rayons X (XRR) fournit des informations détaillées sur le profil vertical de densité de l’échantillon, les épaisseurs de couche et la rugosité interfaciale. La diffraction des rayons X haute résolution (HRXRD) mesure la structure cristallographique de l’échantillon. La diffusion aux petits angles en incidence rasante (GISAXS) est utilisée pour l’évaluation des nanoparticules et de la porosité. L’analyse de la contrainte résiduelle sonde l’état de contrainte de massifs et de revêtements polycristallins.

En plus des diffractogrammes classiques, LEPTOS permet l’analyse des cartographies du réseau réciproques, des données HRXRD et XRR, des images 2D de mesures GISAXS et XRD², des cartographies de zone pour les applications HRXRD, XRR et de contrainte résiduelle. Peu importe si les données ont été recueillies avec des détecteurs 0-D, 1-D ou 2D.
L’interface graphique peut être personnalisée pour répondre aux besoins des chercheurs et des opérateurs industriels.

  • Évaluation conjointe de plusieurs mesures XRR, HRXRD, GISAXS et RS
  • Théories avancées de diffusion des rayons X et méthodes numériques d’estimation, de simulation et d’ajustement des données dans l’espace direct et réciproque
  • Intégration fluide et transparente des jeux de données 1 et 2 dimensions mesurés par des détecteurs ponctuels, linéaires et bidimensionels
  • Éditeur de modèle d’échantillon universel pour paramétriser n’importe quel type d’échantillons de type couche mince ou massif
  • Base de données de matériaux complète et extensible couvrant les 230 groupes d´espace cristallographiques
  • Outil de cartographie pour l’affichage et l’évaluation des mesures effectuées sur de grandes zones d’échantillon
  • Méthode avancée sin²ψ pour l’analyse de la contrainte résiduelle à partir de données 1-D et 2D, ainsi que la méthode (hkl) multiple pour l’évaluation du gradient de contrainte dans les revêtements polycristallins

Caractéristiques

Modules de DIFFRAC.LEPTOS

LEPTOS R

Avec LEPTOS R, les tronçons de diffusion diffuse et les rocking curves peuvent être affinés soit comme des courbes séparées, soit comme un ensemble cohérent de plusieurs courbes selon n’importe quelle combinaison de coupes transversale et longitudinales.

LEPTOS R est conçu pour l’analyse des données de réflectométrie des rayons X (XRR) et de diffusion diffuse (DS) non-spéculaire à partir de structures de couches minces. Le module est entièrement intégré dans la suite LEPTOS, qui intègre l’analyse simultanée des données HRXRD, GISAXS et XRR. Dans le cadre de la suite LEPTOS, le module R hérite de toutes les fonctionnalités communes  à l’ensemble du pack logiciel.

LEPTOS R a été très bien noté dans plusieurs références internationales, y compris le projet VAMAS A10. La structure de LEPTOS R est conforme à la nouvelle norme rfCIF internationale pour le format de données XRR.

LEPTOS H

LEPTOS H contient un module de cartographie qui permet de traiter les données HR-XRD prises point par point sur une grande zone d’échantillon et d’afficher des cartographies de paramètres d’échantillon.

LEPTOS H signifie analyse des données de diffraction des RX Haute résolution et d´incidence rasante.

Le module est entièrement intégré dans la suite LEPTOS, qui intègre l’analyse simultanée des données HRXRD, GISAXS et XRR. Dans le cadre de la suite LEPTOS, le module H hérite de toutes les fonctionnalités communes à l’ensemble du pack logiciel.

LEPTOS S

Les gradients de contrainte résiduelle peuvent être calculés à partir de données {hkl} multiples mesurées à différents angles d’incidence. L’absorption et la réfraction des rayons X, ainsi que l’épaisseur du revêtement, sont prises en compte pour le calcul.

LEPTOS S est un module innovant, puissant et complet pour l’analyse des contraintes résiduelles mesurées par des détecteurs 0D, 1D ou 2D par l’utilisation de méthodes classiques sin2ψ et étendues XRD2. Le module est entièrement intégré dans la suite LEPTOS et hérite de toutes les fonctionnalités communes à l’ensemble du pack logiciel.

LEPTOS G

LEPTOS G permet l’intégration des données 2D en jeux de données 1D affinables ainsi que la transformation des données 2D entre les coordonnées du laboratoir et celle du réseau réciproques.

LEPTOS G fait une évaluation des données de diffusion aux petits angles collectées en incidence rasante, mesurées sur des échantillons contenant des particules nanométrique incorporées juste sous la surface ou en surface de l’échantillon. Il peut s’agir, par exemple, de points ou d´ilots quantiques semi-conducteurs enfouis ou de surface, de matériaux poreux, de poudre condensé incorporée dans des nanoparticules de polymères, etc. La licence pour le module G inclut également le module R pour la réflectométrie des rayons X.

Spécifications

Spécifications de DIFFRAC.LEPTOS

Version La version logicielle actuelle est V7.10.12

Méthodes analytiques

Formalisme dynamique de Parratt

Diversité des modèles de rugosité interfaciale

Méthode d’opérateur pour le calcul des paramètres de diffusion des rayons X

Méthode brevetée d’EigenWaves (MEW)

Formalisme matriciel récursif rapide 2x2 et précis 4x4

Sin2ψ classique et étendu, ainsi que les méthodes XRD2

Évaluation des contraintes résiduelles à partir de donnée {hkl} - multiples

Gradients de contraintes résiduelles/microcontraintes dans les revêtements minces polycristallines

Système d'exploitation

Windows 8 et 10 (32 bits ou 64 bits)