Single crystal X-ray diffraction

単結晶X線回折の測定ノウハウ:はじめてのサンプルスクリーニングと測定前チェック-よりよい測定結果を目指して-

ウェビナー開催日: 9月 19th 2019

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内容

測定結果の質はいかに質の高い生データを得るかにかかっています。測定後の処理方法の違いで測定結果が変わる可能性もありますが、それは生データの持つ”ポテンシャル”をいかに引き出すかという操作にすぎません。”ポテンシャル”の最高値を決めているのが生データの質です。それを直接左右しているのがサンプルのスクリーニング、測定前の確認作業と測定条件です。

 どんなところにポイントがあるのでしょうか?

 今回は実際にサンプルと装置を使いながら手順の様子を見てみます。まず、数分のFast Scan測定を行い、反射の質、逆格子空間上の質を確認します。これで格子定数を決定することも可能になります。格子定数(サンプルの晶系、方向)が決まれば、その情報を利用した、最適な測定方法の導出も可能になり、より良い結果を期待することも可能になります。数分で終了するFast Scanのデータだけで多くの場合構造決定が可能で、それを行うことにより、何らかの問題の有無、それに対する対応策の判断を早めに行うことも可能になります。

 今回のWebinarで測定前の作業のポイントを確認し、より良い測定結果をめざしましょう。

 

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