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HTS-XT によるハイスループット FT-IR スクリーニング

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HTS-XT High Throughput Screening eXTension は、ブルカーのFT-IR との組み合わせにより、多数の試料の連続スクリーニングを可能にするマイクロプレートリーダアクセサリです。高機能マイクロプレートリーダモジュールと OPUS ソフトウェアにより、FT-IR による24 時間連続スクリーニングが可能になります。中赤外スペクトルはもちろん、分光計本体の構成によっては近赤外や可視スペクトルによるスクリーニング分析も可能です。

赤外分析用のマイクロプレートは、標準的な96384または1536ウェルマイクロプレートフォーマットに対応します。液体試料の場合は、マイクロプレートの各ポジションに1~20μL程度の試料液を滴下して乾燥させます。調製した試料体積は試料形状、測定モード及びマイクロプレートのデザインによって変わります。固体試料の場合は、乾燥と粉砕の前処理を加えてマイクロプレートのウェルに充填します。

Microtiterplatten

試料を載せたマイクロプレートはモータ駆動によって密閉光学系内に自動的に格納され、その後、各試料の中心に赤外光の焦点が合うようにマイクロプレートを連続的に移動させながら、透過法または反射法による分光測定が全自動で実行されます。

 

 

 

OPUSによる完全自動化

HTS-XTOPUSのアドオンパッケージのひとつ、OPUS / LABソフトウェアによって制御され、多数の試料に関するスペクトル測定と評価解析を自動的に実行します。 複雑な試料に含まれる多成分の定量も、PLSPartial Least Squares)などの最新の多変量解析法を使用することで、精度の高い分析が可能です。

定性分析においては、スペクトル相関、PCA(主成分分析法)、ANN(人工ニューラルネットワーク法)などさまざまなアルゴリズムの利用が可能です。 測定パラメータと結果がひとつのログファイルに保存されるため、試料データを外部プログラムやラボ情報管理システム(LIMS)等に転送することもできます。

OLAB HTS XT
OPUS / LABは、スクリーニング測定を容易にする、
測定および評価解析用ソフトウェアパッケージです。

HTS-XTアプリケーション

赤外分光法の利点は、試料に関する分子化学情報を与えるという点にあります。他のハイスループットスクリーニング法では、分析対象成分に適したマーカーを使う必要がありますが、赤外分光法によるスクリーニングでは、試料に含まれるすべての成分に関する広範な化学情報を赤外スペクトルから得ることが可能です。

応用例

  • 汚染経路の分析
  • 多成分接着剤等の重合反応速度分析
  • 細胞の特性評価(producers/non-producers
  • ダイヤモンドの鑑別および分類
  • 土壌分析(土壌タイプの分類と成分の定量)

 

 

Spectren