小角X線散乱 (SAXS)

小角X線散乱測定装置

SAXSやすれすれ入射SAXS (GISAXS)は、1 nmから100 nmの領域の粒子を分析するための強力な手法です。溶液中のポリマーやタンパク質、液晶、表面特性、粉末、バルクサンプル、薄膜など、多種多様な材料から、ナノ粒子のサイズ、形状、サイズ分布だけでなく、構造ダイナミクスに関する情報を得ることができます。

デュアルポートメタジェット

Dual Port METALJET

METALJET X線源が実験室系X線装置で最も高輝度なX線ビームをご提供

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N8ホライゾン

N8 HORIZON

SAXS、WAXS、GISAXSを使用して、バルクから繊維、表面、生体サンプルにいたるまで、さまざまなナノ材料を対象とした研究用およびマルチユーザー施設用のハイエンドツール

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ナノスター

NANOSTAR

他に類を見ないモジュール機構を搭載し、1 nmから約125 nmにいたるナノ構造体特性評価にSAXS、GISAXS、ナノグラフィーによるソリューションをご提供

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DAVINCI コンポーネント

DAVINCI コンポーネント

X線源、光学系、検出器、各種サンプルステージや雰囲気制御アタッチメントなどのさまざまな高性能コンポーネントは、追加搭載やアップグレード、複合化することで、新しい分析トレンドへの対応を可能にします

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DIFFRAC.SUITEソフトウェア

DIFFRAC.SUITEソフトウェア

DIFFRAC.SUITETMは、XRDデータの取得と解析を簡単に行うための幅広いソフトウェアモジュールを提供する新しいソフトウェアプラットフォームです

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