ppm 수준의 극미량 분석을 위한 SEM-XRF 분석
2026년 7월 9일 오후 2시
7월 9일 (목) Bruker Korea에서 µ-XRF on SEM 온라인 웨비나를 진행합니다. 브루커 코리아 유저 및 고객들의 많은 관심 부탁드립니다.
- 일시 : 2026년 07월 09일 (목) 오후 2시 ~ 오후 3시 30분
- 주제 : ppm 수준의 극미량 분석을 위한 SEM-XRF 분석
- 대상 : Bruker 유저 및 관심고객
- 접속 플랫폼 : Webex (신청서 제출 후, 이메일을 통한 접속링크 안내)
- 참가비 : 무료
- 문의 : 070-7863-2941 / info.baxs.kr@bruker.com
강의 내용
- μ-XRF 이론
- SEM-XRF를 이용한 Application
- ppm level의 정량 분석
- 비파괴 방식으로 내부 형상 Mapping 및 Thickness 측정
- 브루커 Stage를 이용한 High speed mapping
Key Points
- ppm 단위의 극미량 정량 분석을 한다?
- 시료 내부위의 두께 측정이 필요하다?
- 빠른 대면적 분석이 필요하다?
비파괴 방식을 이용한Chip 내부의 Au wire 분석
PCB의 대면적 원소 Mapping
NIST 611 표준시료(20개의 500ppm)에 대한 EDS, μ-XRF 스펙트럼 비교
Speakers
최성지 책임/교육 지원
EDS, EBSD, FlatQUAD, Micro-XRF, WDS
브루커코리아(주) AXS 사업부
XTrace 웨비나 등록
*필수 항목은 반드시 기입해 주십시오.