banner_pulp-paper_vs1.jpg

Aplicações de papel

A grande quantidade de produtos diferentes e altamente especializado no papel e na indústria de transformação de papel precisa de ferramentas para garantir um produto de constante qualidade.

De saquinhos de chá, papel de seda, além de papel de fotocópia até papelão pesado, existe uma enorme variedade. Uma coisa em comum é a necessidade de uma técnica para uma análise rápida a fim de determinar os parâmetros físicos como a espessura, gramagem, extensão molhado e teor de humidade.

Determinação da umidade absoluta em Papel

Cada material poroso contém a água na forma de vapor, em poros de maiores dimensões e sob a forma de líquido nos capilares estreito da estrutura. A análise de referência típica para um teor de umidade é a titulação de Karl-Fischer, em que a amostra é aquecida e é necessária a utilização de reagentes especiais. A preparação desta titulação, mais o tempo de medição leva cerca de 30 minutos e excede o período de medição de aproximadamente 20 a 30 segundos por Espectroscopia FT-NIR de longe.

Determinação da gramatura e espessura do papel

A espessura do papel ou do cartão é decisivo para o acondicionamento suplementar, especialmente a escolha do método de revestimento e, além disso, a impressão. É um número típico para especificar o tipo de papel. Convencionalmente, a espessura pode ser determinada por um procedimento de teste especial com uma precisão de micrometros. Em alternativa, os valores de gramagem e espessura podem ser analisados ​​com um espectrómetro de MPA FT-NIR utilizando a esfera de integração.

Determinação da cinza em Papel

O teor de cinzas é uma expressão convencional para o resíduo na ignição a partir de uma amostra sólida de acordo com certos procedimentos de ensaio. Como resultado, um número empírico dará uma indicação da quantidade de sais minerais e outras substâncias inorgânicas na amostra. A espectroscopia FT-NIR tem provado ser um bom método para a análise do teor de cinzas, em vários tipos de papel.

Monitoramento on-line do processo de revestimento de silicone

O espectrômetro FT-NIR MATRIX-F duplex, foi desenvolvido para medições sem contato e pode ser usado para monitorar a gramagem de revestimentos de silicone diretamente em máquinas de revestimento de alta velocidade. Os resultados são transferidos para o sistema de controle para ajustar a adição de silicone, por exemplo.