D8 ADVANCE
O D8 ADVANCE: Uma solução única para XRD, PDF e SAXS
D8 ADVANCE – a solução à prova de futuro em difração de raios X
O D8 ADVANCE é baseado na plataforma exclusiva da família de difratômetros D8 e é perfeitamente projetado para todas as aplicações de difração e espalhamento de pó de raios X, incluindo:
- difração de pó de raios X tradicional (XRD)
- Análise da função de distribuição de pares (PDF)
- Espalhamento de raios-X de pequeno e grande ângulo (SAXS, WAXS)
Devido à sua excelente adaptabilidade, o D8 ADVANCE tem a capacidade de medir todos os tipos de amostras, de líquidos a pós soltos, de filmes finos a blocos sólidos, em um único instrumento.
Não importa se você é um usuário iniciante ou experiente, as alterações de configuração são rápidas, fáceis e infalíveis. Tudo isso é possível graças ao exclusivo DAVINCI.DESIGN da Bruker: alterações da configuração do instrumento sem ferramentas e sem alinhamento, suportadas por reconhecimento e validação de componentes automáticos em tempo real.
Ainda mais - apenas a Bruker oferece uma garantia de alinhamento baseada no material de referência padrão NIST SRM1976. Não há outro difratômetro de pó no mercado que exceda a precisão de um D8 ADVANCE em termos de posições de pico, intensidades e resolução.
Galeria de Mercado
Metais
Metrologia de Filme Fino
Materiais de Construção
Produtos Farmacêuticos
Produtos Químicos/Pigmentos
Armazenamento/Baterias de Energia
Características Principais
Óptica TWIN / TWIN
O design patenteado do caminho do feixe óptico TWIN / TWIN simplifica muito o uso do D8 ADVANCE, permitindo uma grande variedade de aplicações e tipos de amostras. Com a conveniência do usuário em mente, o sistema possui comutação automática e motorizada entre 4 geometrias de feixe diferentes. Sem a intervenção manual do usuário, o sistema é capaz de alternar entre o foco Bragg-Brentano para pós e geometria de feixe paralelo para amostras de formato irregular, revestimentos e filmes finos e tudo mais. É perfeitamente adequado para todos os tipos de amostras, incluindo pó, granel, fibra, folha e filme fino (amorfo, policristalino e epitaxial) sob condições ambientais ou não ambientais.
Dynamic Beam Optimization™ (DBO)
O recurso DBO exclusivo da Bruker define uma nova referência significativa em termos de qualidade de dados para difração de raios X. A sincronização automática de fendas de divergência motorizadas, uma tela anti-dispersão motorizada e a janela de detector ativo de campo de visão variável fornecem qualidade de dados incomparável, especificamente em ângulos baixos 2Ɵ. O DBO é suportado por todos os membros da família de detectores LYNXEYE: SSD160-2, LYNXEYE-2 e LYNXEYE XE-T.
LYNXEYE XE-T
O LYNXEYE XE-T é o carro-chefe da família de detectores LYNXEYE. O LYNXEYE XE-T é o único detector dispersivo de energia do mercado para aquisição de dados 0D, 1D e 2D. Adequado para todos os comprimentos de onda (de Cr a Ag), com capacidade de taxa de contagem mais alta e melhor resolução angular, o detector é ideal para todas as aplicações de difração e espalhamento de raios X.
A excelente resolução de energia do LYNXEYE XE-T, superior a 380 eV, o torna o sistema detector de maior desempenho do mercado em termos de filtragem de fluorescência. Com o detector LYNXEYE XE-T, o Fe fluorecense excitado pela radiação de Cu é filtrado 100% com perda de intensidade zero e não há necessidade de filtros metálicos causando artefatos nos dados como Kß remanescente e bordas de absorção. Também não há mais necessidade de monocromadores secundários que matam a intensidade.
O LYNXEYE XE-T é coberto pela garantia exclusiva do detector Brukers: Sem canais defeituosos no momento da entrega. Garantido!
Galeria de Recursos
Óptica TRIO e TWIN
Família de detectores EIGER2 R
A solução para o seu laboratório compatível
Qualidade de Instrumentos e Dados
Um Difratômetro - Todas as Aplicações
Difração de Pó
As técnicas de difração de raios X em pó (XRPD) estão entre as ferramentas mais importantes para a caracterização de materiais. Grande parte da informação embutida em um padrão de pó é derivada diretamente do arranjo atômico das fases presentes. O software D8 ADVANCE e DIFFRAC.SUITE permitem a execução simples de métodos XRPD comuns:
- Identificação de fases cristalinas e amorfas e determinação da pureza da amostra
- Análise quantitativa de fases cristalinas e amorfas em misturas multifásicas
- Análise de microestrutura (tamanho de cristalito, microdeformação, desordem…)
- Tensão residual em massa resultante de tratamento térmico ou usinagem em componentes fabricados
- Análise de textura (orientação preferencial)
- Indexação, determinação da estrutura cristalina ab-initio e refinamento da estrutura cristalina
Análise da Função de Distribuição de Pares
A análise de função de distribuição de pares (PDF) é uma técnica analítica que fornece informações estruturais de materiais desordenados com base em Bragg, bem como espalhamento difuso ("Dispersão Total"). Enquanto os picos de Bragg fornecem informações sobre a estrutura cristalina média de um material (ou seja, ordem de longo alcance), o espalhamento difuso permite a caracterização de sua estrutura local (ou seja, ordem de curto alcance).
O software D8 ADVANCE e TOPAS representam as soluções de análise de PDF de maior desempenho do mercado em termos de velocidade de análise, qualidade de dados e resultados para análise de materiais amorfos, pouco cristalinos, nanocristalinos ou nanoestruturados:
- Identificação de fase
- Determinação e refinamento da estrutura
- Tamanho e forma de nanopartículas
Filmes Finos e Revestimentos
A análise de filmes finos e revestimentos é baseada nos mesmos princípios do XRPD, mas com mais condicionamento de feixe e controle angular. Exemplos típicos incluem, mas não estão limitados a, identificação de fase, qualidade cristalina, tensão residual, análise de textura, determinação de espessura e análise de composição versus deformação. A análise de filmes finos e revestimentos está se concentrando nas propriedades de materiais em camadas com espessura de nm a µm, variando de revestimentos amorfos e policristalinos a filmes cultivados epitaxialmente. O software D8 ADVANCE e DIFFRAC.SUITE permitem análises de alta qualidade de filmes finos, incluindo:
- Difração de incidência rasante
- Reflectometria de Raios-X
- Difração de raios X de alta resolução
- Mapeamento de espaço recíproco
Galeria de Aplicações
Identificação de Fase
Identificação de Fase
Análise de Textura
Análise de Tensão Residual
Reflectometria de Raios-X (XRR)
Espalhamento de raios-X de pequeno ângulo (SAXS)
Especificações D8 ADVANCE
Feature |
Specification |
Benefit |
TRIO and TWIN optics |
Software push-button switch between: Motorized Divergence Slit (Bragg-Brentano) High Intensity Ka1,2 Parallel Beam High Resolution Ka1 Parallel Beam Patents: US10429326, US6665372, US7983389 |
Fully automatic, motorized switching between up to 6 different beam geometries without any manual user intervention Perfectly suited for all sample types including powders, bulk materials, fibers, sheets and thin-films (amorphous, polycrystalline and epitaxial) |
Dynamic Beam Optimization |
Dynamic synchronization of: motorized divergence slits motorized anti-scatter screen variable active detector window 2Ɵ Angular range: <1 to >150 |
Data virtually free of air, instrument, and sample support scattering Significantly enhanced lower limits of detection enabling quantification for minor crystalline and amorphous phases Unparalleled performance at low 2Ɵ angles enabling accurate investigations of clays, pharmaceuticals, zeolites, porous framework materials and more |
LYNXEYE XE-T |
Energy Resolution: < 380 eV @ 8 KeV Detection Modes: 0D,1D, 2D Wavelengths: Cr, Co, Cu, Mo and Ag Patents: EP1647840, EP1510811, US20200033275 |
No need for Kß filters and secondary monochromators 100% filtering of Fe-fluorescense with Cu radiation Up to 450 times faster than conventional detector systems BRAGG2D: Collect 2D data with a divergent primary line beam Unique detector warranty: No defective channels at delivery time |
EIGER2 R |
The latest generation multi-mode (0D/1D/2D) detector based on the Hybrid Photon Counting technology, developed by Dectris Ltd. |
Seamless integration of 0D, 1D and 2D detection in step, continuous and advanced scanning modes Ergonomic, alignment-free detector rotation to optimize γ or 2Ɵ angular coverage Panoramic, tool-free diffracted beam optics using the complete detector field of view Continuously variable detector positioning to balance angular coverage and resolution |
TWIST.TUBE |
Easy, fast, and alignment-free switch between line and point focus applications |
No disconnecting of electric cables or water hoses or unmounting of tubes DAVINCI.DESIGN: Fully automatic detection and configuration of the focus orientation |
Sample Changers |
FLIPSTICK: 9 Samples AUTOCHANGER: 90 samples |
Operation in reflection AND transmission geometries |
D8 Goniometer |
Two-circle goniometer with independent stepper motors and optical encoders |
Unparalleled accuracy and precision as manifasted by Bruker's unique alignment guarantee Absolutely maintenance free drive mechanism / gearings with lifetime lubrication |
Non-ambient |
Temperature: Ranging from ~85K up to ~2500K Pressure: 10-⁴ mbar up to 10 bar Humidity: 5% to 95% RH |
Investigations under ambient and non-ambient conditions Easily exchanged stages with DIFFRAC.DAVINCI |
Componentes XRD
As soluções Bruker XRD consistem em componentes de alto desempenho configurados para atender aos requisitos analíticos. O design modular é a chave para configurar a melhor instrumentação.
Todas as categorias de componentes fazem parte da competência chave da Bruker, desenvolvida e fabricada pela Bruker AXS, ou em estreita cooperação com fornecedores terceirizados.
Os componentes Bruker XRD estão disponíveis para atualizar os sistemas de raios X instalados para melhorar seu desempenho.
PLANEJE.MEDI.ANALISE com DIFFRAC.SUITE
O DIFFRAC.SUITE™ oferece uma ampla variedade de módulos de software para fácil aquisição e avaliação de dados de difração de raios X de pó. Baseado na tecnologia .NET da Microsoft, o DIFFRAC.SUITE oferece todas as vantagens da moderna tecnologia de software para estabilidade, máxima facilidade de uso e rede.
A interface de usuário totalmente personalizável é caracterizada por uma estrutura de plug-in, fornecendo uma aparência, sensação e operação comuns. Todos os módulos de software de medição e avaliação podem ser operados como aplicativos individuais ou integrados na estrutura de plug-in do DIFFRAC.SUITE. A rede ilimitada permite acesso e controle de qualquer número de difratômetros D2 PHASER, D8 ADVANCE, D8 DISCOVER e D8 ENDEAVOR dentro da rede de um cliente.
Software de Medição:
WIZARD – Method planning
COMMANDER – Method execution and direct measurements
TOOLS – Service Interface
Powder Diffraction Software:
DQUANT – Quantitative phase analysis
EVA – Phase identification and quantitative phase analysis
TOPAS – Profile analysis, quantitative analysis, structure analysis
Materials Research Software:
SAXS – Small Angle X-ray Scattering software
XRR – Comprehensive X-ray reflectometry analysis
TEXTURE – All-round Texture analysis meets ease-of-use
LEPTOS – Thin film analysis/Residual stress investigation
Webinars
Recursos D8 ADVANCE
Brochures & Flyers
Serviço e Suporte
- Helpdesk para problemas técnicos com suporte de hardware, software e aplicativos usando ferramentas avançadas de serviço remoto baseadas na Web.
- Contratos de serviço de manutenção do LabScape
- Suporte sob demanda no local
- Instalação e qualificação operacional, bem como verificação de desempenho
- Planeamento, realocação e consultoria do local
- Substituição e peças sobressalentes, consumíveis, e treinamento presencial e online
- Atualizações de software, manuais e gerenciamento do LabScape MSA (brukersupport.com)