XFlash 6-30

多功能中型 SDD
XFlash 6-30 探测器

XFlash® 6-30 结合了出色的能量分辨率和 30 mm2 有效芯片面积的较大固体角度。这使得这款产品可以覆盖 EDS 全部应用,从轻元素分析到快速采集以及 EDS 和 EBSD 同步测量。XFlash® 6-30 一定会提供快速的结果。

总结起来,XFlash® 6-30 具有以下优点:

  • XFlash® 6-30 出色的能量分辨率(Mn Kα 为 123 eV,C Kα 为 45 eV,F Kα 为 53 eV)
  • 其他可用分辨率为 126 eV 和 129 eV(Mn Kα)
  • 极高的脉冲负载能力
  • 出色的轻元素和低能端检测性能(Be - Am 元素范围)
  • 简单,无震动设计的冷却系统
  • 打开电源后立即可用
  • 低运行成本
  • 免维护操作
  • 小尺寸,包括细管径技术
  • 重量轻

 XFlash® 6-30建议的应用领域包括:

  • 用于 SEM、电子探针、FIB-SEM 的 EDS 系统(焊接波纹管可作为选件提供)
  • 将 EDS 和快速 EBSD 分析的 eFlash FS 探头相结合
  • 快速元素面分析