纳米机械测试

特里博阿

纳米缩进期间的原位声学发射监测

在准静态纳米缩进期间检测和记录声学事件

准静态纳米缩进曲线与由蓝点表示的声发射事件相关。

TriboAE使研究人员能够检测和记录准静态纳米缩进期间的声学事件,是研究脆性材料失效机制的宝贵工具。为了提供最高灵敏度来监控声学事件,声学传感器嵌入到缩进探头本身。这提高了灵敏度,避免了将结果与表面安装的传感器混为一时。

TriboAE 将由裂纹引起的弹性应变能量释放引起的声发射事件与纳米缩进测试期间记录的负载和位移数据同步,以便数据之间可以进行关联。

负载位移曲线上第一次事件期间发生的声学事件振幅图。

凝聚断裂检测

TriboAE提供了准静态纳米缩进获得的力位移数据与内聚材料断裂产生的声波形之间的实时关联。结合原位SPM地形成像,可以区分与纳米缩进位点周围圆周和径向断裂事件相关的表面形态变化。

面间分层检测

除了内聚性断裂外,在薄膜分层和痉挛开始时,还经常产生声学事件。与原位SPM成像相结合,研究人员可以将声波形与脱层区域的形态关联起来。