software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

LEPTOS G

LEPTOS G可用于处理掠入角小角散射数据,这些测量数据来自试样表面或表层下纳米R度颗粒的试样。例如这可能是隐藏或者是表面半导体量子点和量子岛、多孔材料、浓缩粉末及植入聚合物中的纳米颗粒等。G模块的信用证包含在用于X射线反射体的R模块中。LEPTOS G能用于:

     

  • 给出纳米颗粒的信息:形状、尺寸、表层/体积密度、相干周期和长度
  • 采用完整的最优化的演算法对二维积分数据和一维数据自动地拟合试样的模型
  • 数据拟合有多种成本函数
  • 包括颗粒(Zhu,硬球)和分布参数(均衡的、Lorentz、Gauss)之间相关类型的几种物理模型
  • 访问和其他LEPTOS模块共享的内容丰富的材料数据库,包含非晶和结晶材料
  • 计算和拟合模拟与实验数据直接的背底和标定因子
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