DIFFRAC.LEPTOS
功能全面的材料研究软件套装
X射线反射率（XRR）可提供竖直方向样品密度分布详细信息、层厚及界面粗糙度。高分辨X射线衍射（HRXRD）可测量样品的晶体结构。掠入射小角X射线散射（GISAXS）可用于分析纳米颗粒和孔隙度。残余应力分析可检测大块样品和多晶涂层的应变状态。
除了常规的单曲线扫描，LEPTOS还能分析高分辨HRXRD和XRR倒易空间图，GISAXS和XRD²应力测试帧图，以及HRXRD、XRR和残余应力的多位点扫描图。用零维、一维或二维探测器收集的数据均可。
图形用户界面可以定制，以满足科学研究人员和工业操作人员不同方面的需求。
- 联合分析XRR、HRXRD、GISAXS和RS的许多测量数据
- 先进的x射线散射理论，以及用于估算、模拟和拟合正空间和倒易空间中的数学算法
- 对通过点、线和二维探测器测得的一维和二维数据集进行积分处理
- 通用的样品模型编辑器，可用于参数化任何类型的薄膜和大块样品
- 全面和可扩展的材料数据库，涵盖所有230个晶体空间群
- 区域多位点扫描工具，可以显示和分析对大样品区域的测试结果
- 先进的sin²ψ方法，用于对一维和二维数据进行残余应力分析，同时还有多(hkl)方法分析涂层的应力梯度
DIFFRAC.LEPTOS模块
LEPTOS R
LEPTOS R适用于分析X射线反射率（XRR）数据和薄层结构的漫散射（DS）数据。该模块完全集成在LEPTOS套装中，可用于同时分析HRXRD、GISAXS和XRR数据。作为LEPTOS套装的一部分，R模块拥有整个套装常见的所有功能。
LEPTOS R在许多国际标杆项目（如VAMAS项目A10）中获得了高度评价。LEPTOS R的结构符合新制定的XRR数据格式的国际rfCIF标准。
LEPTOS H
LEPTOS H能用于分析高分辨率X射线衍射和掠入射X射线衍射数据。
该模块完全集成在LEPTOS套件中，可用于同时分析HRXRD、GISAXS和XRR数据。作为LEPTOS套件的一部分，H模块拥有整个套件常见的所有功能。
LEPTOS S
LEPTOS S是个创新、强大和综合性的工具，适用于分析使用经典的sin2ψ方法使用零维、一维或二维探测器测试的以及拓展的XRD2方法测试的残余应力。该模块完全集成在LEPTOS套装中，拥有整个套装常见的所有功能。
LEPTOS G
LEPTOS G适用于分析掠入射小角散射数据，这些数据来源于含纳米颗粒的样品，这些颗粒可能在样品表面以下或位于样品表面上。例如，这些可以是内嵌的或表面的半导体量子点和岛、多孔材料、凝聚粉末、嵌入在聚合物中的纳米颗粒等。模块G的授权也包含用于X射线反射率的R模块。
DIFFRAC.LEPTOS的技术指标
| 版本 | 最新软件版本为V7.10.12 |
分析方法 |
Parratt的动态方法 界面粗糙度模型的多样化 计算X射线散射参数的操作方法 本征波的专利方法（MEW） 快速的2x2和精确的4x4递推矩阵方法 传统的和扩展的sin2ψ方法，以及XRD2方法 通过多{hkl}数据分析得到残余应力 薄的多晶涂层中的应力/应变梯度 |
操作系统 |
Windows 8和10（32位或64位） |
