software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

LEPTOS S

LEPTOS S是创新的功能强大的和应用广泛的残余应力分析软件,用著名的sin2ψ法,并延伸到二维XRD (XRD2) 应用。可用零维、一维或者二维探测器测量。作为LEPTOS软件包的一部分,这个模块继承了整软件包所有共通功能。

LEPTOS S Software, XRD
Residual stress gradients can be calculated from multiple {hkl} measured at different grazing-incident angles. The absorption and refraction of X-rays, as well as the coating thickness, are taken into account for the calculation.

数据分析

     

  • 五种寻求峰位方法:重心法、滑移重心法、抛物线法、Pseudo-Voigt函数和Pearson VII函数拟合法。
  • 提供全面的数据修正功能,包括吸收修正、背底扣除、偏振修正、平滑处理和Kα2剥离。
  • 用户可扩展的材料基本数据包括材料的弹性参数和X射线弹性常数(XEC)。
  • 计算试样中的应力张量并利用主轴系统中不同的应力模型,包括纯正应力,正应力加上切应力,纯双轴应力,双轴应力加上切应力,及三轴应力。
  • 利用积分工具综合比较二维XRD和sin2ψ法 。
  • 可进行区域分布图分析。利用程序界面来实现自动数据分析。

理论基础

  • 包括传统及延伸sin2ψ计算法,并涵盖了二维XRD (XRD2) 计算。
  • 可利用多个{hkl}同时计算分析残余应力。
  • 可分析多晶薄膜涂层中应力 / 应变梯度。

结果输出

     

  • 显示εφψ (sin2ψ), dφψ (sin2ψ)及2φψ (sin2ψ) 回归处理。
  • 主应力和试样坐标系角方位矩阵。
  • 拉梅椭球图(Ellipsoid Lame view)。
  • 分析结果储存在XML格式之工程文档。
  • 多种报告输出选项及定制输出