Anwendungen
Eigenleitende, SiGe- und Verbindungshalbleiter sind die entscheidenden Bausteine der modernen Welt der Elektronik und Kommunikation. Wissenschaftler und Ingenieure gestalten Materialien mit neuen Eigenschaften, entwickeln neue Produktionsverfahren und garantieren die Qualität der Produkte. Röntgenmethoden bieten die zerstörungsfreie Möglichkeit, eine Reihe von physikalischen Parametern der Halbleitermaterialien zu erhalten. Mit einer Wellenlänge, die zu den beteiligten Kristallgitterabständen passt, sind Röntgenaufnahmen die natürliche Sonde für jede Art von Halbleiterprobe. Reine Analysenergebnisse ohne Kalibrierung sind möglich, im Gegensatz zu traditionellen Methoden, die Wellenlängen in Mikrometer-Größenordnung verwenden.
Gefragtes Thema für alle Halbleiteranwendungen ist die Untersuchung der Proben, auch auf großen 300 mm-Halbleiterscheiben mit ca. 50 µm räumlicher Auflösung, sowohl für Forschung und Entwicklung als auch unter routinemäßigen Produktionsüberwachungsbedingungen. Bruker AXS bietet maßgeschneiderte Lösungen, die auf Ihre Versuchsanforderungen zugeschnitten sind.
Bruker Optik bietet die Fachkompetenz und die führende FT-IR-Spektrometer-Technologie für zuverlässige und zerstörungsfreie Silizium-Qualitätskontrolle mit Infrarot-Licht für Photovoltaik und Elektronik. Profitieren Sie von mehr als 30 Jahren Erfahrung auf dem Gebiet der Infrarot-basierenden Halbleiteranalyse. Bruker Optik FT-IR- und Raman-Spektrometer sind leistungsfähige Forschungsgeräte für eine ganze Reihe von Materialien.