XFlash 6T-30

Der XFlash^® 6T-30 Detektor für STEM und TEM ermöglicht sehr gute Energieauflösung. Dieser  SDD im Slim-line-Design ist aufgrund seines geringen Durchmessers besonders gut für TEM-Polschuh-Geometrien geeignet, die nur wenig Platz für einen EDS-Detektor bieten, z.B. auch für EDS-Retrofits an älteren TEMs. Das vielseitige XFlash® 6T-30 Messsystem erfüllt alle Ansprüche moderner Analyse, von hervorragenden geometrischen Bedingungen (optimaler Abnahme- und bestmöglicher Raumwinkel zur Erfassung von Röntgenstrahlen) über versatile leicht bedienbare Software bis hin zur analytischen Leistungsfähigkeit (z.B. Detektion leichter Elemente oder Messung bei hoher Eingangszählraten).  

Zusammenfassend bietet der XFlash^® 6T-30 folgende Vorteile:

• Ausgezeichnete Energieauflösung verfügbar (126 eV bei Mn Kα, 51 eV bei C Kα und 60 eV bei F Kα)
• Weitere lieferbare Auflösung: 129 eV bei Mn Kα
• Verarbeitung sehr hoher Zählraten, hohe Impulsbelastbarkeit
• Hervorragende Leichtelementdetektion und hohe Energieauflösung im Leichtelement-/EDS-Niedrigenergiebereich (Gesamtdetektionsbereich: Be - Am)
• Geschweißter Faltenbalg für Vakuumtauglichkeit
• Keine vibrationserzeugende Detektorkühlung
• Sofort betriebsbereit nach dem Einschalten
• Wartungsfreier Betrieb
• Niedrige Betriebskosten
• Kleine Abmessungen, Slim-line-Design
• Geringes Gewicht
• Fensterlose Version auf Anfrage erhältlich 

Mögliche Einsatzgebiete für den XFlash^® 6T-30 sind:

• Alle Varianten von EDS-Analytik in TEM, STEM und T-SEM (STEM im REM), einschließlich aberrationskorrigierter Elektronenmikroskopie