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XFlash 6T-30

Der SDD mittlerer Größe für konventionelle und aberrationskorrigierte TEM
Der XFlash 6T-30 Detektor

Der XFlash® 6T-30 Detektor für STEM und TEM ermöglicht sehr gute Energieauflösung. Dieser mittelgroße SDD im Slim-line-Design mit einem ultradünnen Messfinger ist besonders gut für TEM-Polschuh-Geometrien geeignet, die nur wenig Platz für einen EDS-Detektor bieten. Das vielseitige XFlash® 6T-30 Messsystem erfüllt alle Ansprüche moderner Analyse, von hervorragenden geometrischen Bedingungen (optimaler Abnahme- und bestmöglicher Raumwinkel zur Erfassung von Röntgenstrahlen) über versatile leicht bedienbare Software bis hin zur analytischen Leistungsfähigkeit (z.B. Detektion leichter Elemente oder Messung bei hoher Eingangszählraten).  

Zusammenfassend bietet der XFlash® 6T-30 folgende Vorteile:

  • Ausgezeichnete Energieauflösung verfügbar (126 eV bei Mn Kα, 51 eV bei C Kα und 60 eV bei F Kα)
  • Weitere lieferbare Auflösung: 129 eV bei Mn Kα
  • Verarbeitung sehr hoher Zählraten, hohe Impulsbelastbarkeit
  • Hervorragende Leichtelementdetektion und hohe Energieauflösung im Leichtelement-/EDS-Niedrigenergiebereich (Gesamtdetektionsbereich: Be - Am)
  • Geschweißter Faltenbalg für Vakuumtauglichkeit
  • Keine vibrationserzeugende Detektorkühlung
  • Sofort betriebsbereit nach dem Einschalten
  • Wartungsfreier Betrieb
  • Niedrige Betriebskosten
  • Kleine Abmessungen, Slim-line-Design
  • Geringes Gewicht
  • Fensterlose Version auf Anfrage erhältlich 

Mögliche Einsatzgebiete für den XFlash® 6T-30 sind:

  • Alle Varianten von EDS-Analytik in TEM, STEM und T-SEM (STEM im REM), einschließlich aberrationskorrigierter Elektronenmikroskopie