XFlash 6T-30
종래및 수차용 중형 SDD는 TEM을 수정했습니다.
XFlash 6T-30 검출기
XFlash® 6T-30은 최고의 에너지 해상도를 갖춘 S/TEM용 검출기입니다. 작은 직경(슬림 라인 디자인)으로 인해 EDS 검출기에 공간이 거의 없는 상황, 특히 오래된 TEM의 EDS 개조에도 적합합니다. 6T-30을® 다재다능한 XFlash는 우수한 기하학적 조건(최적의 이륙 및 최상의 솔리드 앵글)부터 분석 성능(라이트 엘리먼트 또는 높은 카운트 속도 분석)에 이르기까지 모든 분석가의 요구를 충족시킵니다.
요약하면 XFlash® 6T-30은 다음과 같은 이점을 제공합니다.
- 우수한 에너지 해상도 (Mn Kα에서 126 eV, C Kα에서 51 eV, F Kα60 eV 가능)
- 기타 사용 가능한 해상도는 Mn Kα에서 129 eV입니다.
- 매우 높은 펄스 로딩 기능
- 우수한 광 원소 및 낮은 에너지 성능 (요소 범위 Be - Am)
- 용접 벨로우즈를 표준으로
- 진동 발생 냉각 시스템 없음
- 전원 켜기 직후 사용 가능
- 유지보수 가 없는 작동
- 낮은 운영 비용
- 슬림 라인 기술 손가락을 포함한 작은 치수
- 저중량
- 요청 시 사용할 수 있는 창 없는 버전
XFlash® 6T-30에 대한 응용 프로그램의 권장 영역은 다음과 같습니다.
- 수차 교정 전자 현미경 검사를 포함하여 TEM 및 STEM에 EDS 분해의 모든 모형