XFlash 6T-30

用于常规和球差校正 TEM 的中型 SDD
XFlash 6T-30 探测器

XFlash® 6T-30 是 S/TEM 的探测器,具有最佳的能量分辨率。这种中型 SDD 配有超薄手指,非常适合 EDS 探测器空间不足的情况。多功能 XFlash® 6T-30 可满足所有分析师的需求,从出色的几何条件(最佳检出角和最佳的固体角)到分析性能(轻元素或高计数速率分析)。

总结起来,XFlash® 6T-30 具有以下优点:

  • 出色的能量分辨率(Mn Kα 时为 126 eV,C Kα 为 51 eV,F Kα 为 60 eV)
  • 其他可用分辨率为 Mn Kα 的 129 eV
  • 极高的脉冲负载能力
  • 出色的轻元素和低能端检测性能(Be - Am 元素范围)
  • 焊接波纹管作为标配
  • 简单,无震动设计的冷却系统
  • 打开电源后立即可用
  • 低运行成本
  • 免维护操作
  • 小尺寸,包括细管径技术
  • 重量轻
  • 可应要求提供无窗版本

 XFlash® 6T-30建议的应用领域包括:

  • TEM 和 STEM 上所有类型的 EDS 分析,包括球差校正电子显微镜