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XFlash 6T-60

Der SDD mit größerer aktiver Fläche für TEM-Analytik im nm-Bereich und darunter
Der XFlash 6T-60 Detektor

Der hier verwendete SDD mittlerer Größe, mit einer aktiven Fläche von 60 mm2, der in einem Slim-line Detektorfinger montiert ist, ermöglicht bei passender Geometrie einen größeren Raumwinkel als der 30 mm2-Detektor, und u.U. auch im Vergleich zum 100 mm2-Detektor, und das bei weiterhin hohem Abnahmewinkel. Der XFlash® 6T | 60 ist insbesondere für Messungen mit geringe Röntgenausbeute geeignet. So z.B. für Spektrometrie mit atomarer Auflösung oder Experimente, bei denen eine Zonenachse eingehalten werden muss und die Probe daher nicht zum Detektor gekippt werden kann, sowie für empfindliche Proben (Polymere, biologische Proben, andere C-haltige, wie z.B. Graphen). Mit 126 eV bei Mn-Kα bietet der Detektor eine sehr gute Energieauflösung.

Zusammenfassend bietet der XFlash® 6T-60 folgende Vorteile:

  • Sehr gute Energieauflösung (126 eV bei Mn-Kα, 51 eV bei C-Kα und 60 eV bei F-Kα erhältlich)
  • Weitere lieferbare Auflösung: 129 eV bei Mn-Kα
  • Verarbeitung hoher Zählraten, hohe Impulsbelastbarkeit
  • Ausgezeichnete Leichtelement- und Niedrigenergie-Performance (Gesamtdetektionsbereich: Be - Am)
  • Geschweißter Faltenbalg für Vakuumtauglichkeit
  • Vibrationsfreie Detektorkühlung
  • Betriebsbereit sofort nach dem Einschalten
  • Wartungsfreier Betrieb
  • Niedrige Betriebskosten
  • Kleine Abmessungen, Detektorfinger im Slim-line Design
  • Geringes Gewicht
  • Fensterlose Version auf Anfrage

Empfohlene Einsatzgebiete für den XFlash® 6T-60 sind:

  • Alle Varianten von EDS-Analytik in TEM, STEM und T-SEM (STEM im REM), einschließlich aberrationskorrigierter Elektronenmikroskopie