XFlash 6T-60
nm 스케일 및 아래의 TEM 분석을 위한 대형 솔리드 앵글 SDD
XFlash 6T-60 검출기
슬림 라인 검출기 손가락에 장착된 중간 액티브 영역 60mm2 칩은 큰 단색 각도와 높은 이륙 각도를 제공합니다. XFlash® 6T-60은 원자 분해능 분광법, 영역 축을 유지해야 하고 샘플을 기울일 수 없는 실험, 빔에 민감한 표본(예: 그래핀, 생명 과학)과 같은 상대적으로 낮은 X선 수율을 가진 응용 분야에 이상적입니다. 검출기는 또한 Mn Kα에서 126 eV로 매우 좋은 에너지 해상도를 제공합니다.
요약하면 XFlash® 6T-60은 다음과 같은 이점을 제공합니다.
- 좋은 에너지 해상도 (Mn Kα에서 126 eV, C Kα에서 51 eV, F Kα60 eV 사용 가능)
- 기타 사용 가능한 해상도는 Mn Kα에서 129 eV입니다.
- 매우 높은 펄스 부하 기능
- 우수한 광 원소 및 낮은 에너지 성능 (요소 범위 Be - Am)
- 용접 벨로우즈를 표준으로
- 진동 발생 냉각 시스템 없음
- 전원 켜기 직후 사용 가능
- 유지보수 가 없는 작동
- 낮은 운영 비용
- 슬림 라인 기술 손가락을 포함한 작은 치수
- 저중량
- 요청 시 사용할 수 있는 창 없는 버전
XFlash® 6T-60에 대한 응용 프로그램의 권장 영역은 다음과 같습니다.
- 수차 교정 전자 현미경 검사를 포함한 TEM 및 STEM의 낮은 X선 수율 응용 프로그램