Zeitaufgelöstes Abbilden und Mappen während In-Situ-Heiz- und elektrischen Biasing-Experimenten
OPTIMUS 2 mit seinem innovativen OPTIMUS Vue-Phosphorschirm und die neue ESPRIT TRM-Software-Option bilden die perfekte, unverzichtbare Kombination von Werkzeugen für In-situ-Heiz- und elektrische Biasing-Experimente an elektronentransparenten Proben. Die Erfassung und Speicherung von Hellfeld-ähnlichen Bildern, TKD- und EDS-Mappings erfolgt automatisch und wiederholt sich für eine benutzerdefinierte Zeitspanne, z.B. der Dauer eines bestimmten Schritts Ihres Versuchs oder sogar die Dauer des gesamten Experiments. Diese neue und einzigartige Funktion erleichtert die Erfassung aller wichtigen mikrostrukturellen Veränderungen, die bei dynamischen Experimenten wie In-situ-Heizen und elektrischem Biasing stattfinden.
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Elevated temperature transmission Kikuchi diffraction in the SEM
Alice Bastos Fanta; Matteo Todeschini; Andrew Burrows; Henri Jansen; Christian D. Damsgaard; Hossein Alimadadi; Jakob B. Wagner
Materials Characterization Volume 139, Mai 2018, Seiten 452-462
