In-situ加熱実験およびIn-situ電気バイアス印加実験に対応した時間分解EBSDマッピング
試料解析に新たな次元を追加
OPTIMUS 2 は、新しい OPTIMUS Vue スクリーンおよび ESPRIT TRM の新機能と組み合わせることで、薄膜試料（TEM用試料）に対する in‑situ 加熱および電気バイアス実験に最適な、必須ツールセットを提供します。
BF 像（明視野像）に類似した画像、TKD マップ、および EDS マップの取得と保存は、ユーザーが指定した時間（特定ステップの継続時間や、実験全体の時間など）にわたり自動的かつ繰り返し実行されます。
この新しくユニークな機能により、in‑situ 加熱や電気バイアスのような動的な実験中に発生する、重要な微細構造変化を漏れなく捉えることが可能になります。
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Elevated temperature transmission Kikuchi diffraction in the SEM
Alice Bastos Fanta; Matteo Todeschini; Andrew Burrows; Henri Jansen; Christian D. Damsgaard; Hossein Alimadadi; Jakob B. Wagner
Materials Characterization Volume 139, May 2018, Pages 452-462
Results are courtesy of Alice Bastos Fanta, DTU Nanolab in Copenhagen, Denmark