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Rapid Stage

X-Y Piezo-Probentisch für schnelle Elementverteilungsmessungen

Der optionale, piezobasierte „Rapid Stage“ Probentisch ermöglicht Hochgeschwindigkeits-Elementverteilungsmessungen über große Probenflächen. Dieser lässt sich schnell auf den existierenden REM- Tisch montieren und wieder entfernen.

Wichtige Fakten und Vorteile

  • Adaptierbar an alle gängigen REMs
  • Ansteuerung unabhängig vom REM- Probentisch
  • Konstante Geschwindigkeit bis zu 4 mm/s
  • Nachweis geringer Konzentrationen bis hin zu Spurenelementen (z.B. Partikelproben, Gesteinsschliffe, Dünnschliffe usw.) in kurzer Zeit möglich
  • Gleichzeitige Anregung mit Elektronen und Photonen möglich
  • VP/LV-Modus geeignet
  • Schnelle und problemlose Installation (plug-in Lösung)