Der optionale, piezobasierte „Rapid Stage“ Probentisch ermöglicht Hochgeschwindigkeits-Elementverteilungsmessungen über große Probenflächen. Dieser lässt sich schnell auf den existierenden REM- Tisch montieren und wieder entfernen.
Wichtige Fakten und Vorteile
- Adaptierbar an alle gängigen REMs
- Ansteuerung unabhängig vom REM- Probentisch
- Konstante Geschwindigkeit bis zu 4 mm/s
- Nachweis geringer Konzentrationen bis hin zu Spurenelementen (z.B. Partikelproben, Gesteinsschliffe, Dünnschliffe usw.) in kurzer Zeit möglich
- Gleichzeitige Anregung mit Elektronen und Photonen möglich
- VP/LV-Modus geeignet
- Schnelle und problemlose Installation (plug-in Lösung)