Micro-XRF Spektrometer

M1 MISTRAL

Ein kompaktes Mikro-RFA Spektrometer für Ihren Labortisch

Substrate, Material-zusammensetzung und Schichtdicken

Kosteneffiziente Materialanalyse

M1 MISTRAL Micro-XRF

Highlights

100 µm
Kleinste Spotgröße
Sogar feine Strukturdetails auf Leiterplatten können aufgelöst werden
2 nm - 60 µm
Bereich für die Analyse von mehreren Multielement-Schichten
Anspruchsvolle Analyse der Schichtdicke und -zusammensetzung nach ASTM B568; selbst wenn Elemente in mehreren Schichten vorkommen, programmierbare Multipoint-Analyse für sich wiederholende Aufgaben
8 ppm
Nachweisgrenzen für Cu, Zn in Polymeren oder Pb in Zn
RoHS-Prüfung, Analyse von Spurenelementen in Lötzinn, Kunststoffen/Polymeren, Metalllegierungen; automatische Korrektur der Materialdicke, exakte Messpunktpositionierung auf elektronischen Bauteilen und Leiterkarten

Ein kompaktes micro-XRF Spektrometer für viele Anwendungen

Haupteigenschaften

  • Flexibles Instrument
  • Einfach zu bedienen
  • Benutzerfreundliche Touchscreen-Oberfläche
  • Zugriff auf Rohdaten

Das M1 MISTRAL ist ein kompaktes, energiedispersives micro-XRF Spektrometer mit einem vielseitigen Einsatzbereich. Es ist für den schnellen und kosten-günstigen Betrieb in einer industriellen Umgebung konzipiert und einfach zu bedienen. Das M1 MISTRAL liefert präzise Informationen über die Zusammen-setzung und Schichtdicke von Materialien, wie z.B. Edelmetalllegierungen oder Strukturen mit mehreren Schichten.

Substrate und Beschichtungen werden nach der ASTM-Norm B568 und der europäischen Norm ISO 3497 analysiert. Bei der Analyse von Chemisch Nickel (engl. "elektroless deposited nickel phosphate (NiP) coatings") kann mit Anregung durch eine Rh-Anode eine hohe Genauigkeit erreicht werden.

Im Bruchteil einer Minute kann die genaue Zusammensetzung von Silber und von Schmucklegierungen oder Platinmetallen bestimmt werden. Die Ergebnisse können entweder in Gewicht-% oder in Karat ausgegeben werden.

Die Analyse kann standardlos oder standardbasiert durchgeführt werden, um eine noch höhere Genauigkeit zu erreichen. Für jede Anwendung steht eine große Vielfalt an Kalibrierungen zur Verfügung.

Von der Positionierung der Probe bis zum Druck der Ergebnisse in einem Bericht ist der vollständige Arbeitsablauf in die Software integriert. Gleichzeitig wird die volle Transparenz durch den offenen Zugang zu den Rohdaten gewährleistet.

Vorteile

Vorteile des M1 MISTRAL

Eine Vielzahl von Elementen kann zerstörungsfrei gemessen werden. Eine Probenvorbereitung ist nicht erforderlich. Auch komplexe analytische Aufgaben können mit der programmierbaren XYZ-Stufe automatisiert und mit einem einzigen Mausklick gestartet werden. Ultraschnelle Erkennungssysteme liefern schnelle Ergebnisse.

Das M1 MISTRAL ist mit einem großen Silizium-Driftdetektor (SDD) ausgestattet, der durch seine überlegene Zählrate und Energieauflösung Detektionsgrenzen sogar im ppm-Bereich ermöglicht. Durch die Kombination des Hochleistungs-detektors, der digitalen Pulsverarbeitung und optimierter Geometrie wird eine hohe Effizienz für die Detektion der Röntgenquanten erreicht, wodurch Sie schnelle und präzise Ergebnisse erhalten.

Die leichte Bedienung und der wartungsfreie Betrieb erleichtern nicht nur die Arbeit, in Kombination mit der leistungsfähigen Software können Analysen auch von Personal mit minimalem Training durchgeführt werden. Weder zusätzliches Gas noch Verbrauchsmaterialien sind erforderlich. Die robuste Konstruktion sorgt für höchste Stabilität.

Spezifikationen

Technische Details

Anregung

  • Mikrofokus Röntgenröhre mit W- oder Rh-Anode
Max. Probengröße & Gewicht
  • 48 cm x 49 cm x 20 cm
  • bis 1,8 kg

Detektor

  • Peltier gekühlt, 30 mm² Hochleistungs-Silizium-Driftdetektor, 
  • Energieauflösung <150 eV für Mn Kα
Scanbereich
  • 200 mm x 175 mm x 80 mm (mit motorisiertem XYZ-Probentisch und EasyLoad-Funktion)

Analysebereich

  • Standard: ab Ti (Z=22) mit W-Anode
  • Optional: ab Al (Z=13) mit Rh-Anode
Instrumentabmessungen (B x T x H)
  • 550 mm x 680 mm x 430 mm
Kollimator
  • Kollimatorwechsler für 0,1 mm bis 1,5 mm
   

Software

XSpect Pro Analysesoftware

  • Instrumentensteuerung, Datenerfassung und -management
  • Optionale Touchscreen-Oberfläche
  • Probentisch-Steuerung und Programmierung
  • Analyse  der Schichtdicke und -zusammensetzung von metallischen Mehrschicht-Strukturen
  • Quantitative Analyse der Materialzusammensetzung, standardlose und standardbasierte empirische Modelle
  • Darstellung von Spektren mit automatischer Peak-Identifikation
  • Trendlinien und Daten für statistische Prozesssteuerung (SPC)
  • Berichts-Generator
  • Ergebnisarchiv

News & Events