VERTEX 70v

VERTEX 70v FT-IR-Spektrometer

Das VERTEX 70v bietet beispiellose Leistung und Flexibilität für anspruchsvolle analytische und Forschungsanwendungen. Das innovative Design resultiert in der höchsten Flexibilität und der höchsten Leistung. Die Datenerfassung erfolgt über einen 2-Kanal analog/digital (A/D)-Wandler mit 24-Bit Dynamik, der in der Elektronik des Detektorvorverstärkers integriert ist. Diese hochentwickelte DigiTect-Technologie verhindert Störungen durch externe Signale und gewährleistet bestes Signal-zu-Rausch-Verhältnis.

Vakuumoptik

Mit der evakuierbaren Optik des Vakuum FT-IR-Spektrometers VERTEX 70v wird die PEAK-Empfindlichkeit in der mittleren, nahen und fernen IR/THz-Region ohne Angst erreicht, sehr schwache Spektralfunktionen zu maskieren, die durch Wasserdampf oder CO2-Absorptionen verursacht wurden. Es können herausragende Ergebnisse, z. B. im Bereich der Nano Science-Forschung bis zu Sub-Monolagen erzielt werden.

Bruker FM FIR-MIR-Spektroskopie

Die Bruker FM-Technologie bietet die einzigartige Möglichkeit, ein komplettes Fern- und Mittel-Infrarotspektrum von 6000 cm-1 bis 50 cm-1 in einem Messschritt aufzunehmen, ohne optische Komponenten wechseln zu müssen.

Breiter Spektralbereich

Das VERTEX 70v kann mit optischen Komponenten ausgestattet werden, um den Spektralbereich von 10 cm-1 im fernen IR/THz, durch den mittleren und nahen IR bis zum sichtbaren/UV-Spektralbereich bei 28.000 cm-1 abzudecken. Mit seinen vorjustierten Optikkomponenten und dem permanent justierten RockSolid-Interferometer ist ein Bereichswechsel schnell und problemlos.

Automatisierung über ein intelligentes Netzwerk

Ein Netzwerk intelligenter Funktionen wie z. B. Erkennung von Probenzubehör und optischen Komponenten, automatische Einrichtung und Prüfung von Messparametern macht die FT-IR-Spektroskopie einfach, schnell und zuverlässig. Darüber hinaus gewährleistet die permanente Online-Prüfung der Spektrometer-Komponenten, dass Fehlerdiagnosen und Wartung einfach bleiben. Diese Funktionalität wird über eine Suite an Software-Tools sichergestellt.

Plug & Play: Einfache Einrichtung

Egal, wo Sie gerade auf der Welt sind: Stecken Sie den Netzstecker in eine Steckdose und schließen Sie das Ethernet-Kabel an und schon ist das VERTEX 70v einsatzbereit. Über das Ethernet-Kabel zum VERTEX 70v kann das Spektrometer auch über Ihr Netzwerk oder das Internet gesteuert werden.

Das VERTEX 70v ist das ideale Instrument für anspruchsvolle Forschungs- und Entwicklungsanwendungen.

Wenden Sie sich noch heute an unser Vertriebsteam, um mehr über VERTEX 70v zu erfahren!

Die eingesetzten Technologien sind durch eines oder mehrere der folgenden Patente geschützt: US 7034944

Externe Zubehöre, Quellen und Detektoren

Das VERTEX 70v-Spektrometer ist mit fünf Strahlausgängen und zwei weiteren Strahleingängen ausgestattet und bietet die Möglichkeit, das System ohne Weiteres mit externem Messzubehör, Quellen und Detektoren zu erweitern. Dies beinhaltet folgende Möglichkeiten:

  • PMA 50 Polarisations-Modulations-Zubehör für VCD und PM-IRRAS
  • PL II Photolumineszenz-Modul
  • RAM II FT-Raman-Modul und das RamanScope III FT-Raman-Mikroskop 
  • TGA-FT-IR-Kopplung
  • FT-IR-Mikroskope der HYPERION-Serie
  • HYPERION 3000 FT-IR-Imaging-System
  • HTS-XT High-Throughput-Screening eXTension
  • IMAC Focal Plane Array macro imaging Zubehör
  • Externe Probenkammer XSA, evakuierbar oder spülbar
  • Vakuumdichte Adaptation einer externen UHV-Kammer
  • Vakuum-PL/PT/PR-Messeinheit
  • Einheit zur Kopplung einer Faseroptik MIR- oder NIR-Fasersonde für Feststoffe und Flüssigkeiten
  • Große Integrationskugeln
  • Autosampler-Zubehöre
  • Externe FIR-Hg-Lampe
  • Einzigartiger Weitbereichs-MIR-FIR-Strahlteiler und Detektor (Bruker FM)
  • Externer Emissionsadapter
  • Externe Hochleistung-MIR-Quelle
  • Externe Vakuum-Detektorkammer mit 4 Positionen
  • Adaptation eines Bolometers für die Detektion im FIR-Bereich

    Das VERTEX 70v-Spektrometer erfüllt in idealer Weise die Erfordernisse für Forschungsanwendungen, bei denen hohe Empfindlichkeit, Stabilität und Zeitauflösung benötigt werden. Der verfügbare Spektralbereich bis zum FIR/THz ermöglicht zusätzlich weitere spezifische Anwendungen in der industriellen Entwicklung und Analytik. Die vielfältige VERTEX 70v-Instrument bietet zusammen mit passenden Zubehören und der Verwendung der richtigen Messtechnik eine Lösung für fast jede Aufgabe im Bereich der FT-IR-Spektroskopie.

    Forschung & Entwicklung

    • Zeitaufgelöste Spektroskopie mit kontinuierlicher und Step-Scan-Technologie sowohl mit Amplituden- (AM) als auch Phasenmodulation (PM) (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
    • FT-IR-Spektroskopie im Ultrahochvakuum
    • FT-IR-Spektroelektrochemie für die in-situ-Charakterisierung von Elektrodenoberflächen und Elektrolyten
    • Untersuchungen von Proteinen in Wasser (CONFOCHECK)

    Pharma

    • Bestimmung der absoluten Konfiguration von Molekülen (VCD)
    • Bestimmung der Stabilität und der flüchtigen Bestandteile von Medikamenten mit Hilfe thermoanalytischer Verfahren (TGA-FT-IR)
    • Unterscheidung von Polymorphen desselben Wirkstoffes im fernen Infrarotbereich (Bruker FM)

    Polymere und Chemie

    • Identifizierung anorganischer Füllstoffe in Polymerkompositen im fernen Infrarotbereich (Bruker FM)
    • Dynamische und rheo-optische Untersuchungen von Polymeren
    • Bestimmung flüchtiger Bestandteile und Zuordnung der Zersetzungsprozesse mit Hilfe der thermischen Analyse (TGA-FT-IR)
    • Reaktionsbeobachtung und Reaktionskontrolle (MIR-Fasersonde)
    • Identifizierung anorganischer Mineralien und Pigmente

    Oberflächenanalytik

    • Erkennung und Bestimmung von dünnen Schichten und Monolagen
    • Oberflächenuntersuchungen mit Hilfe der Polarisationsmodulations-Technik (PM-IRRAS)

    Materialwissenschaft

    • Charakterisierung optischer und stark reflektierender Materialien (Fenster, Spiegel)
    • Untersuchungen von dunklen Materialien und Tiefenprofilierung durch photoakustische Spektroskopie (PAS)
    • Bestimmung des Emissionsvermögens von Materialien

      Halbleiter

      • Bestimmung des Sauerstoff- und Kohlenstoffanteiles in Siliziumwafern in der Qualitätskontrolle