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AFM mit höchster Leistung und kolokalisierter Mikro-Raman-Funktion

Das branchenführende AFM und ein wissenschaftliches konfokales Raman-Mikroskop auf einer einzigen Plattform.

Mit der Einführung der integrierten Raman-Spektroskopiefunktion setzt die Dimension Icon®-Plattform von Bruker wieder einen neuen Maßstab in leistungsstarker Oberflächencharakterisierung. Die Plattform ermöglicht einfache und extrem effiziente kolokalisierte Messungen. Das Icon AFM-Raman-System bringt die komplementären Techniken der Atomkraftmikroskopie und der Raman-Mikroskopie zusammen, um kritische Informationen über sowohl die Topographie als auch die chemische Zusammensetzung einer Probe zu liefern.

Wenn diese Techniken weiter mit fortschrittlichen AFM-Modi wie der exklusiven elektrischen PeakForce TUNA™-Charakterisierung und dem quantitativen nanomechanischen Mapping PeakForce QNM® verbessert werden, sind Wissenschaftler in der Lage, die Mechanismen, die zu spezifischen Materialeigenschaften führen, besser zu verstehen.

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