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Weiterführende Literatur

Broschüren und Datenblätter

Dimension Icon - Broschüre 1,4 MB
Mit dem Dimension Icon-System können Forscher aus Wissenschaft und Industrie nun von unvergleichlicher Leistung, Funktionalität und Zugänglichkeit im Nano-Bereich profitieren.

PeakForce Tapping - Broschüre 2,7 MB
Der exklusive Abtastmodus PeakForce Tapping von Bruker ist seit der Einführung des TappingMode der wichtigste wissenschaftliche Durchbruch in der Rasterkraftmikroskopie. Er liefert bisher unerreichte hochauflösende Bilderfassung, erweitert die Palette der zu untersuchenden Proben und erlaubt erstmalig die gleichzeitige Eigenschaftszuordnung im Nano-Bereich.

 PeakForce SECM - Broschüre 2,2 MB
Der exklusive Modus PeakForce SECM™ von Bruker ist die weltweit erste kommerziell erhältliche Lösung für die auf Rasterkraftmikroskopie basierende elektrochemische Rastermikroskopie (SECM) mit einem räumlichen Auflösungsvermögen von weniger als 100 Nanometer.

• Dimension Icon SSRM - Datenblatt 1,0 MB
Das Rasterkraftmikroskop Dimension Icon SSRM-HR von Bruker ermöglicht ein erweitertes räumliches Auflösungsvermögen und die Wiederholbarkeit der Trägerprofilierung in der Ausbreitungswiderstands-Rastermikroskopie (SSRM); mit diesem Mikroskop stellen wir uns den strikten aktuellen und zukünftigen Anforderungen an Halbleiterproduktionsverfahren des ITRS.

• AutoMet-Software - Datenblatt 1,6 MB
Mit der AutoMET™-Software von Bruker gelangen präzise Messungen anhand von Rasterkraftmikroskopen in anspruchsvolle Produktionsumgebungen. AutoMET ist für DimensionFastScan und Dimension Icon erhältlich und verbindet als einzige Software hochauflösende Bildgebung mit schneller, automatisierter Messtechnik.

• Forschungslösungen für die elektrochemische Rasterkraftmikroskopie - Datenblatt 1,6 MB
Mit den geschlossenen elektrochemischen Zellen von Bruker kann eine Reihe neuer Forschungen in der elektrochemischen Rasterkraftmikroskopie angestellt werden.

• Weltweiter Service und Support - Broschüre 2,7 MB
Unser hochqualifiziertes Support-Team aus Ingenieuren, praxiserfahrenen Wissenschaftlern und fachspezifischen Experten unterstützt Sie mit Systemservice und Upgrades sowie anwendungstechnischem Support und Fortbildungsmaßnahmen in verschiedenen Disziplinen bei der Optimierung Ihrer Produktivität.

 

 

Anwendungshinweise

Hyperspektrale Kartierung mit AFM DataCube Nanoelectrical Modes durchführen - AN152 5,4 MB
DCUBE-Modi ermöglichen die gleichzeitige Erfassung von elektrischen und mechanischen Eigenschaften im Nanometerbereich in Datenwürfeln mit hoher Dichte. Für Materialwissenschaftler und -ingenieure überwindet dies langjährige Effizienz- und Charakterisierungsbarrieren.

Quantitative Messungen elastischer und viskoelastischer Eigenschaften mit FASTForce Volume CR - Anwendungshinweis 148 3,3 MB
Durch Kontaktresonanz werden sowohl elastische als auch viskoelastische Eigenschaften wie Speichermodul, Verlustmodul und -faktor verschiedener Materialien (von weichen Polymeren bis hin zu Metallen) erfasst. FASTForce Volume CR verbindet die Bilderfassung durch FASTForce Volume mit der Kontaktresonanzmethode und verfügt so über 15 verschiedene Kanäle mechanischer Daten wie Adhäsion ohne Messspitzenabnutzung oder Probenbeschädigung.

Einführung in die auf Rasterkraftmikroskopie basierende elektrochemische Scan-Mikroskopie: PeakForce SECM - Anwendungshinweis 147 1,6 MB
In diesem Anwendungshinweis geht es um PeakForce SECM, der weltweit ersten vollständigen, kommerziell erhältlichen Lösung für auf Rasterkraftmikroskopie basierende elektrochemische Scan-Mikroskopie (SECM). Mit einer räumlichen Auflösung von weniger als 100 nm ermöglicht PeakForce SECM die gleichzeitige Erstellung topografischer, elektrochemischer, elektrischer und mechanischer Abbildungen mit lateraler Auflösung im Nano-Bereich.

Nanoskalige Abbildung dielektrischer und elektrischer Leitfähigkeit anhand von Raster-Mikrowellen-Impedanz-Mikroskopie (sMIM) - Anwendungshinweis 146 1,9 MB
Dieser Anwendungshinweis besteht aus einer Einführung in die Raster-Mikrowellen-Impedanz-Mikroskopie (sMIM) und Erläuterungen, wie sie mit den vielseitigen Rasterkraftmikroskopen aus der Dynamics-Reihe von Bruker kombiniert werden kann.

PeakForce-Kelvinsonden-Rasterkraftmikroskopie - Anwendungshinweis 140 3,5 MB
Kelvinsonden-Rasterkraftmikroskopie (KPFM), auch Oberflächenpotentiometrie genannt, wird in vielen Bereichen wie z. B bei Korrosionsstudien von Legierungen, Untersuchungen photovoltaischer Effekte auf Solarzellen und der Oberflächenanalytik angewandt. Das Raster-Kelvin-Mikroskop und das leitfähige Rasterkraftmikroskop sind kombiniert die beiden meistgenutzten Geräte zur Charakterisierung elektrischer Eigenschaften im Nano-Bereich.

Einführung in die AFM-Technologien ScanAsyst und PeakForce Tapping von Bruker - Anwendungshinweis 133 4,9 MB
PeakForce Tapping und ScanAsyst sind zwei bildgebende Verfahren für die Rasterkraftmikroskope von Bruker. In diesem Anwendungshinweis werden die diesen Verfahren zugrundeliegenden physikalischen Hintergründe erklärt. Außerdem wird PeakForce Tapping in das Gerüst der bereits existierenden Betriebsmodi eingeordnet und der Nutzen dieser neuen Modi anhand von Anwendungsbeispielen aufgezeigt.

Simultane Zuordnung elektrischer und mechanischer Eigenschaften im Nano-Bereich anhand von PeakForce TUNA - Anwendungshinweis 132 6,7 MB
In diesem Anwendungshinweis werden die Grundlagen von PeakForce TUNA (Tunnel-Rasterkraftmikroskopie) erklärt und mit dem handelsüblichen, auf dem Kontakt-Modus basierenden Tunnel-Rasterkraftmikroskop verglichen. Dabei werden die besonderen Funktionen und unterschiedlichen Anwendungsbereiche, die aus der Kombination von PeakForce Tapping und Leitfähigkeitsmessung hervorgehen, aufgezeigt.

Quantitative Zuordnung mechanischer Eigenschaften Mapping im Nano-Bereich anhand von PeakForce QNM – Anwendungshinweis 128 1,3 MB
Bis vor Kurzem waren quantitative Abbildungen von Materialeigenschaften mit zufriedenstellender Auflösung und Benutzerfreundlichkeit für die Forscher in der Rastersondenmikroskopie kaum möglich. Einige Neuerungen bei den Betriebsmodi schaffen nun Abhilfe. Mit PeakForce QNM können Materialschwankungen anhand topografischer Darstellungen mit hoher Auflösung eindeutig identifiziert werden.