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DataCubes webslider 2019.051
Nanoelectrical webslider 2018.007v2
Nanomechanical webslider 2017.074

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Hohe Auflösung mit Sicherheit – jederzeit, jedes Mal

Mit PeakForce Tapping® können Forscher systematisch hochaufgelöste Bilder erfassen.

Slide 1 mockup short



Die Energie auf ein Atom der Probe richten.





Für optimale Auflösung am Sweetspot agieren.

Dimension Icon Point Defect Resolution on Calcite v1





Punktdefekt-Auflösung auch in der Nanomechanik.

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Riesige Bandbreite für schnelles Arbeiten

Mit Fast Tapping die Scangeschwindigkeit in Luft ohne Leistungsverlust erhöhen.






Mit der anpassungsfähigen Scanoption die vierfache Scangeschwindigkeit an Proben mit Nanometerrauheit erreichen.

Fast Tapping on SiO wafer

Fast Tapping auf SiO2-Wafer

Fast tapping on ITO

Fast Tapping auf Indiumzinnoxid (ITO).






Die Bildgebungsgeschwindigkeit sofort mit der bidirektionalen Scanoption verdoppeln.






Mit dem eigens von Bruker entwickelten, bewährten Hochgeschwindigkeits-Messkopf bis zu zehn Mal schneller scannen.

FastScan C probe

Messkopf Fastscan-C


Vollständige quantitative Datenerfassung im Nano-Bereich

Hochaufgelöste Bilder mit vollständigen Daten mechanischer Eigenschaften im Nano-Bereich kombinieren.






Beschreibung viskoelastischer Materialverhalten im Nano-Bereich mit hoher Wahrscheinlichkeit.

Pspmma image icon more v1

3D-Oberfläche der nach Verlustmodul mit Falschfarben dargestellten Probentopografie. Blaugefärbte Flächen haben einen höheren, rotgefärbte Flächen einen niedrigeren Verlustmodul (unter Einbeziehung der Polystyrol- bzw. der PMMA-Matrix). Die Verlustmodul-Karte wurde durch Kontaktresonanz mithilfe des Modus FastForce Volume erstellt. 5 µm-Scan, ~ 590 kHz, 256x256 Pixel.

FastScan syndiotactic polypropylene domains v1

Auf dieser mit PeakForce QNM angefertigten Abbildung sind von einer PMMA-Matrix (seegrün) umgebene syndiotaktische Polypropylen-Flächen (violett) zu sehen. Im E‑Modul eingefärbte topografische Daten erlauben eine einfache Identifizierung von Komponenten und zeigen durch syndiotaktisches Polypropylen gebildete Plättchen, die sich über die PMMA-Matrix ausbreiten. Bildgröße: 8 µm.

 

 

 

 

 

Quantifizierbare Daten mechanischer Eigenschaften werden mit dem neuen NanoMechanics Lab/NanoMechanik-Labor zur Routine.

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Daten elektrischer und chemischer Eigenschaften aus dem Nano-Bereich für fortgeschrittene Forschung anhand von Rasterkraftmikroskopen erhalten.

 

 

 

 

 

Überprüfung elektrischer Eigenschaften von vorher unzugänglichen Proben.

 

 

Capture the most s1v1

Probenstrombilder an senkrecht stehenden Kohlenstoffnanoröhren. Nur mit PeakForce TUNA® möglich.

Capture the most s2v1

Links: Kraftdatenkubus im atomaren Bereich mit PeakForce Capture™, auf dem die Lage einzelner Atome im vertikalen Schnitt (XZ) zu sehen ist. Rechts: Durchschnittliche mit PeakForce Capture™ ermittelte Werte; die eine flüssige Struktur nachweisen.

 

 

 

 

Den gesamten Kraftdatenkubus für eine ausführliche Beschreibung der Kontaktmechanik erfassen.




Echtzeituntersuchung der chemischen Eigenschaften von Atomen.

FastScan Realtime v1

Mit PeakForce Tapping angefertigte Höhenbilder (links) und Kraftkurven (rechts) zeigen den Unterscheid bei der atomaren Oberflächenanordnung und der Interaktion von Messspitze und Probe im atomaren Bereich zwischen Kalzit und Glimmer.

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Unbegrenztes Potenzial – voll flexibel und leicht zugänglich

Mit PeakForce Tapping® können Forscher systematisch hochaufgelöste Bilder erfassen.

Unlimited Potential s1v1



Komplette Umgebungslösungen für Batterien, organische Solarzellen und andere Energiequellen.

 

 

 

 

Zahlreiche einzigartige Modi als Erster verwenden: sollte ein Modus noch nicht existieren, kann man selbst einen erfinden.

Unlimited Potentail S2v1
FastScan Custom collage v2

Links: Im Handschuhkasten gekoppelte Rasterkraftmikroskopie und Raman-Spektroskopie. Rechts: fotoleitendes Zubehörteil eines Rasterkraftmikroskops.

 

 

 

Dank des offenen Aufbaus zusätzliche Verfahren korrelieren.

Zugriff auf unsere Software und Elektronik nach Wunsch: über COM, Breakout-Boxen, Lithographie/NanoMan und Force-Scripting.

FastScan Coding v1

Links: Beispiel für die Systemintegration mit Zugang zu NanoScope über COM. Rechts: NanoScript-Programmierung in C++-Umgebung.

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Erstaunlich einfache Bedienung

Mit der Bildoptimierungssoftware ScanAsyst® können alle Benutzer unabhängig von ihrer Erfahrung fachmännische Ergebnisse erzielen.

FastScan Publication Graph v2



NanoScope® ist das meistgewählte und meistgenannte AFM-Produkt der Welt.














Wir sind immer bei Ihnen.

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