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会议将围绕分析测试中心的创新发展;人工智能技术与分析测试技术的融合发展;产教研用融合发展经验分享等,邀请江桂斌院士、唐波院士及分析测试相关领域知名专家作大会报告,分享行业前沿最新发展同时组织专题论坛、开展研讨交流、举办新型功能材料创新平台及技术推介对接活动。
我们诚邀您前来布鲁克展台,深入了解我们X射线分析设备及应用解决方案。
举办时间:
2026 年 5 月 25-27 日
举办地点:
福州,福建省西湖宾馆
对晶态和非晶态粉末、块状材料和薄膜进行晶体结构分析、材料特性分析和相分析。
布鲁克推出的一系列三维X射线显微镜(XRM)产品为广大工业科学应用带来了无损3D成像整套解决方案。
分析固体、粉末或液体样品中的元素(Be-U),含量范围从亚ppm到100%
分析不均匀或不规则形状样品中的元素(Na-U)