面向材料科学的三维X射线显微镜
打开显微镜的新局面
布鲁克三维X射线显微镜（XRM）整合了微计算机断层扫描（micro-ct）硬件与专用软件，打造出了全面的显微成像可视化解决方案。布鲁克XRM解决方案，从微米级分辨率的台式仪器到纳米分辨率的落地式仪器应有尽有，实现了易用性和功能性的完美平衡。
从测量地质样品的孔隙率到片剂药物多层包衣的厚度，乃至电路的片上和板级互连结构，XRM均可快速展开多尺度分析。得益于XRM的非破坏特性，您将能验证组件的完整性，从而将增材制造等制造技术的质控带向新高度。
布鲁克推出的软件为技术人员和研究新手提供了简单易懂的按钮界面，同时，还为力图在样品和技术方面有所突破的专家提供了出色且深入的剖析。由于使用了最新的GPU驱动算法，您将能完成重构，进而在短时间内从大型数据集中获取结果。借助随附的分析包，您将能实现定性可视化和定量回归。
材料科学 XRM 技术参数
规格 |
SKYSCAN 1275 |
SKYSCAN 1272 CMOS |
SKYSCAN 1273 |
SKYSCAN 2214 CMOS |
外部尺寸（宽 x 深 x 高，毫米） |
1040 x 665 x 400 |
1160 x 520 x 330 |
1250 x 820 x 815 |
1800 x 950 x 1680 |
重量（不含可选电子部件） |
170 公斤 |
150 公斤 |
400 公斤 |
1500 公斤 |
电源 |
40-100千瓦 |
40-100千瓦 |
40-130千瓦 |
20-160千瓦 |
探测器 |
3 Mp平板探测器 |
16 Mp CMOS |
6 Mp 平板 |
6 Mp 平板 16 Mp 大 CCD 16 Mp 中 CCD 15 Mp 高 res Ccd |
最大样品尺寸（直径，高度） |
96 毫米，120 毫米 |
75 毫米，80 毫米 |
300 毫米，500 毫米 |
300 毫米，400 毫米 |
最小分辨率（音、空间） |
<4 μm， <8 μm |
<0.45 μm，<5 μm |
<3 μm, <6 μm |
60 nm，<500 nm |
测量、重建和分析软件 |
包括 |
包括 |
包括 |
包括 |
