XRM

3D XRM para Ciencia de Materiales

El portfolio de microscopios de rayos X 3 D de Bruker ofrece soluciones llave en mano para imágenes no destructivas 3D sobre una gran variedad de aplicaciones científicas e industriales. Esto incluye detección de defectos en fundiciones, mecanizado y manufactura aditiva, inspección de complejos sistemas electromecánicos, empaquetado farmacéutico, herramientas médicas avanzadas, análisis de porosidad y tamaño de grano en muestras geológicas y microscopía in situ.

Una nueva dimensión para microscopía

Los microscopios de rayos X 3D (XRM) de Bruker combinan hardware de microtomografía computarizada (micro-CT) con software especializado en una solución de visualización microscópica completa. Las soluciones Bruker XRM, van desde instrumentos de sobremesa con micro resolución hasta instrumentos de suelo con nano resolución, y proporcionan el equilibrio perfecto entre facilidad de uso y potencia.

Desde la medida de la porosidad en muestras geológicas hasta el espesor de múltiples recubrimientos en tabletas farmacéuticas o la estructura de interconexión de circuitos a nivel de placa y chip, XRM permite un análisis rápido multiescalar. La naturaleza no destructiva de XRM permite la validación de la integridad de los componentes, llevando el control de calidad de las técnicas de fabricación tales como como la fabricación aditiva, a un nuevo nivel.

El software de Bruker proporciona interfaces simples de pulsar botón para técnicos e investigadores novatos y una profundidad excepcional para expertos que buscan superar los límites de sus muestras y de la técnica. La reconstrucción se logra con los últimos algoritmos impulsados por GPU que proporcionan resultados de grandes conjuntos de datos en una fracción de tiempo. El paquete de análisis incluido permite tanto visualizaciones cualitativas como regresiones cuantitativas.

Especificaciones de XRM para Ciencia de Materiales

Especificación

SKYSCAN 1275

SKYSCAN 1272 CMOS

SKYSCAN 1273

SKYSCAN 2214 CMOS

Dimensiones Exteriores (w x d x h, mm)

1040 x 665 x 400

1160 x 520 x 330

1250 x 820 x 815

1800 x 950 x 1680

Peso (sin electrónica opcional)

170 kg

150 kg

400 kg

1500 kg

Fuente

40-100 kV

40-100 kV

40-130 kV

20-160 kV

Detector

3 Mp Flat Panel

16 Mp CMOS

6 Mp Flat Panel

6 Mp  Flat Panel

16 Mp large CMOS

16 Mp mid CMOS

15 Mp hi-res CMOS

Max Tamaño Muestra (Diam, Height)

96 mm, 120 mm

75 mm, 80 mm

300 mm, 500 mm

300 mm, 400 mm

Mínima Resolución (Voxel, Espacial)

<4 µm, <8 µm

<0.45 µm, <5 µm

<3 µm, <6 µm

60 nm, <500 nm

Medida, Reconstrucción y Software de Análisis

Incluido

Incluido

Incluido

Incluido

POSICIONAR, ESCANEAR, RECONSTRUIR….

Posicionar

La vista en tiempo real de la muestra y los parámetros de escaneo predeterminados actualizados activamente permiten una configuración rápida del escaneo.

Escanear

Las radiografías se pueden verse en tiempo real permitiendo el seguimiento de las medidas. Las medidas se pueden agrupar para garantizar la utilización completa del sistema.

NRECON

Algoritmo de vanguardia impulsado por GPU QUE da como resultado la reconstrucción de modelos 3D en una fracción del tiempo de computación tradicional.

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