XRM

3D XRM para Ciência dos Materiais

O portfólio de microscópios de raios-X 3D (XRM) da Bruker oferece soluções prontas para imagens 3D não destrutivas de uma ampla variedade de aplicações industriais e científicas. Isso inclui detecção de defeitos em fundição, usinagem e manufatura aditiva, inspeção de conjuntos eletromecânicos complexos, embalagens farmacêuticas, ferramentas médicas avançadas, análise de porosidade e tamanho de grão em amostras geológicas e microscopia in situ.

Uma nova dimensão para a microscopia

Os microscópios de raios-X 3D Bruker (XRM) combinam hardware de microtomografia computadorizada (micro-ct) com software especializado em uma solução completa de visualização microscópica. Variando de bancadas de micro-resolução a instrumentos de chão de nano-resolução, as soluções Bruker XRM fornecem o equilíbrio perfeito entre facilidade de uso e potência.

Desde a medição da porosidade em amostras geológicas até a espessura de vários revestimentos em comprimidos farmacêuticos ou a estrutura de interconexão de circuitos em nível de chip e placa, o XRM permite uma análise multiescala rápida. A natureza não destrutiva do XRM permite a validação da integridade do componente, elevando o QC de técnicas de fabricação, como manufatura aditiva, a um novo nível.

O software da Bruker fornece interfaces simples de botão para técnicos e pesquisadores iniciantes e profundidade excepcional para especialistas que procuram ampliar os limites de suas amostras e da técnica. A reconstrução é realizada com os mais recentes algoritmos orientados por GPU, fornecendo resultados de grandes conjuntos de dados em uma fração do tempo. O pacote de análise incluído permite visualizações qualitativas e regressões quantitativas.

Materials Science XRM Specifications

Specification

SKYSCAN 1275

SKYSCAN 1272 CMOS

SKYSCAN 1273

SKYSCAN 2214 CMOS

Exterior dimensions (w x d x h, mm)

1040 x 665 x 400

1160 x 520 x 330

1250 x 820 x 815

1800 x 950 x 1680

Weight (without optional electronics)

170 kg

150 kg

400 kg

1500 kg

Source

40-100 kV

40-100 kV

40-130 kV

20-160 kV

Detector

3 Mp Flat Panel

16 Mp CMOS

6 Mp Flat Panel

6 Mp  Flat Panel

16 Mp large CMOS

16 Mp mid CMOS

15 Mp hi-res CMOS

Max Sample Size (Diam, Height)

96 mm, 120 mm

75 mm, 80 mm

300 mm, 500 mm

300 mm, 400 mm

Minimum Resolution (Voxel, Spatial)

<4 µm, <8 µm

<0.45 µm, <5 µm

<3 µm, <6 µm

60 nm, <500 nm

Measurement, Reconstruction and Analysis Software

Included

Included

Included

Included

POSIÇÃO, DIGITALIZAÇÃO, RECONSTRUÇÃO…

Posição

A visualização em tempo real da amostra e os parâmetros de varredura padrão atualizados ativamente permitem uma configuração de varredura rápida.

Scan

As radiografias podem ser vistas em tempo real permitindo o monitoramento das medições. As medições podem ser agrupadas para garantir a utilização total do sistema.

NRECON

O algoritmo de ponta conduzido por GPU resulta na reconstrução do modelo 3D em uma fração do tempo de computação tradicional.

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