第三回　微小力学 懇話会
特別企画: みんなで話そう微小力学

12:30～13:00   受付

13:00～13:10 「Welcome and Introduction」　

                                                                        ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部 統括部長　
                                                                        鈴木 大輔

13:10~13:50『ヘテロナノ組織ステンレス鋼の組織と硬さの関係 』　

超高強度が発現するヘテロナノ組織ステンレス鋼は、双晶ドメイン、せん断帯、状結晶粒がナノメートル単位で分散する組織を有している。本講演では、これらの各組織の硬さをナノインデンターにより評価した結果を説明する。さらに、諸因子(押し込み深さ、傾き、表面粗さなど)が測定結果に及ぼす影響を検討した結果を示し、ナノインデンターを用いたナノ領域での硬度測定の際の注意点について紹介する。

                                                                        金沢大学　理工研究域　機械工学系　　
                                                                        准教授　古賀 紀光様

13:50～14:30 『MEMSデバイスを用いたTEM内その場荷重負荷試験システムの概要と応用研究』

結晶性材料の変形現象は荷重負荷に伴う原子の位置ずれ（変位）に帰着する。我々の研究グループでは原子変位を直接観察するため、MEMS技術を用いた透過型電子顕微鏡（TEM）内その場荷重負荷試験システムの開発を進めてきた。本講演では、当該システムの動作原理や制御手法を解説するとともに、それを用いた応用研究として金属やセラミックスの力学的応答、粒界・界面の破断挙動などを微視的レベルから議論する。

                                                                        東京大学 生産技術研究所 
                                                                        准教授　栃木 栄太様

14:30～14:40 　休憩

14:40～15:10 『「まずちゃんと知る！」製品開発におけるナノインデンターの提供価値』

当社の製品はそのほとんどがソフトマテリアル、かつ薄膜の積層体として使用されます。この薄膜に直接触れて状態把握ができるナノインデンターは、開発者自身が製品を理解し、その機能を制御していくための重要な指針を提供します。本講演では膜の状態を『まず数値化』することの重要性、そして断面測定・スクラッチ・環境制御をキーワードに『ちゃんと理解』するために行っている探究活動の事例を紹介します。

                                                                        artience株式会社　グループR&D本部　次世代技術研究部　
                                                                        解析技術GL 中野 剛伸 様

15:10～15:30『積層セラミックコンデンサ製造プロセスにおけるナノインデンター活用事例』

積層セラミックコンデンサの小型大容量化に向けての開発は加速しており、現在では誘電体、内部電極厚み1μm以下、ケースサイズは0201（0.25mm×0.125mm）まで小型化が進んでいる。これらの積層構造を高精度に制御するためには微小領域での機械特性評価が必須となっており、その評価事例についてご紹介します。

                                                                        太陽誘電株式会社 第一事業本部　積層コンデンサ事業部　技術開発部                                                                          課長 小和瀬 裕介 様                                                                       

15:30～15:50　「ブルカー製品アップデート」

昨年12月にリリースした新製品 TI Premier IIを中心に、ブルカーナノインデンター新製品・新機能をご紹介いたします。

                                                                       ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 アプリケーション部                                                                             アプリケーションエンジニア 二軒谷 亮

15:50～16:00    休憩　

16:00～17:15   【特別企画】「みんなで話そう微小力学」

微小力学試験に関して、日頃より気になるご質問やご相談をパネリストの先生方と意見交換できる貴重なプログラムです。ご質問・ご相談は、登録フォームよりご記入ください。

当日にご質問やご意見を頂戴することも可能ですので、活発な議論・有益な情報交換の機会を期待しております。

                                                 ＜座長＞物質・材料研究機構　構造材料研究センター　センター長　大村 孝仁 様                                                 ＜パネリスト＞講演者の皆様

17:15～17:30　   閉会

17:30～19:00　   懇親会

日時：2025年3月27日(木)　13:00～17:30(12:30～受付開始)　

会場：貸会議室スペース まる八　茅場町
〔→交通アクセス〕
〒103-0025　東京都中央区日本橋茅場町1－12－2　樋口本店ビル８F
■ 日比谷線/東西線 茅場町駅→徒歩1分
■ 茅場町駅3番出口を出てすぐ、永代通り沿いのスターバックスコーヒーのあるビルの8階

ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部
TEL : 03-3523-6361
E-mail：info-nano.bns.jp@bruker.com