高分子のIn-Situ結晶評価ソリューションセミナー～Ⅹ線回折と原子間力顕微鏡による高分子薄膜の多角的評価～
高分子材料、高分子薄膜の結晶評価・解析技術の最前線をテーマにしたオンラインセミナーをブルカーＸ線事業部とナノ表面計測事業部の共催でお届けします。(各30分ｘ2）
ウェビナー要約
分子材料、高分子薄膜の結晶評価・解析技術の最前線をテーマにしたオンラインセミナーをブルカーＸ線事業部とナノ表面計測事業部の共催でお届けします。
＜こんな方におすすめ＞
・フィルム・繊維・薄膜などの高分子系材料の研究・開発に携わる方
・高分子温度変化、局所熱分析、結晶構造分析、高分子の結晶評価にご興味のある方
・X線回折装置や原子間力顕微鏡の測定手法によるできること、わかることが知りたい方
・測定手法について新たな知識を得たい方
＜プログラム＞60分
①「最新のX線回折装置で見るアプリケーション」
概要：ブルカーが誇る最新のX線回折装置を使用した、フィルム・繊維・薄膜へのアプローチを、様々な測定の事例を交えてお話しいたします。
X線事業部 営業部 満岡謙祐
②「AFMを用いた高分子薄膜のIn-Situ解析 ～AFMの基礎から応用測定～」
概要：ブルカーの最新機種であるDimension IconXRを用いて、高分子薄膜解析への様々なアプローチを、測定モード及び測定例を交えて紹介いたします。
ナノ表面計測事業部 アプリケーションエンジニア 寺山剛司
このウェビナーで取り上げられた技術の詳細や、原子力顕微鏡（AFM）向けの当社の他のソリューションについて、詳しくはこちらをご覧ください：
