原子間力顕微鏡

Dimension XR

バイエンドリサーチ向けAFM ー 機械特性・電気特性・電気化学特性評価パッケージ
Dimension Icon XR

ハイライト

Dimension XR (ディメンション XR )

ブルカーDimensionXRは数十年に渡る研究&開発実績と技術革新をもとに、ナノスケール研究史上最高性能、高機能、拡張性を備えた1台。FastScan® 、Icon®AFM プラットフォームの最新モデルとなるExtream Research(XR)SPM ファミリーは、ナノメカニカル、ナノ電気およびナノ電気化学特性向けの最先端研究向けにユニークなパッケージソリューションを提供します。また大気、液中、電気または化学反応環境下における材料および活性ナノスケールシステムの定量化を、今までにないほど簡単に実現します。

Hyperspectral
ナノ電気特性評価
機能性材料、半導体、エネルギー研究のための電気的AFM技術を網羅。
Sub-100nm
電気化学イメージング
電池、燃料電池、腐食に関連する局所的な電気化学的活性の定量分析のための最高分解能のトータルソリューションを提供します。
Out-of-the-box
ナノ力学特性解析
材料の構造とナノメカニクス特性を相関させるための完全に定量的なターンキー技術を提供する。

特長

最高のパフォーマンスで初めて唯一のAFM機能を実現

先端研究のための最適化されたパッケージ

XR Nano Mechanics 機械特性評価

XR Nano Mechanics 機械特性評価パッケージは、ポリマー鎖の分子単位以下の空間分解能で最小の構造を包括的に検出するための様々なモードを提供します。研究者は、当社独自のAFM-nDMA™モードを使用して、バルクDMAおよびナノ同定法とナノメカニクスデータを相関させることができます。柔らかい粘着性のあるハイドロゲルや複合材料から硬い金属やセラミックまで、定量的なナノスケールの特性評価を実現します。

XR NanoElectrical 電気特性評価

Dimension XR NanoElectrical電気特性評価パッケージは、単一のシステムで最も広範な電気的AFM技術をカバーしています。研究者は、独自のDataCubeモードを使用して、機械的特性測定と相関のあるすべてのピクセルの電気スペクトルをキャプチャします。このシステムは、1回の測定でこれまで得られなかった情報を提供します。

XR NanoElectroChemial 電気化学特性評価

NanoElectroChemial 走査型電気化学顕微鏡パッケージにより、AFMベースの走査型電気化学顕微鏡(AFM-SECM)と電気化学AFM(EC-AFM)が可能になります。AFMオペレータは、< 100 nmの空間分解能で電気化学情報を取得し、単一システムで電気化学的、電気的、機械的マッピングを同時に実行します。

すべてのモード、すべての環境で最高の解像度を実現

液体や剛性マップの点欠陥から、空気中や導電率マップの原子分解能まで、Dimension XRシステムはすべての測定において最高の分解能を提供します。ブルカー独自のPeakForce Tapping技術を利用して、結晶欠陥の分解能やポリマーの分子欠陥を含むハードマターとソフトマターの両方の性能ベンチマークを達成しています。この技術は、何百枚もの画像で粗面化されたガラスの微小な凹凸を解決するのにも同様に重要な役割を果たしています。このシステムは、PeakForceタッピングと非常に安定した安定性、独自のプローブ技術、そしてブルカーの数十年に渡るチップスキャニングの革新的な経験を組み合わせたものです。その結果、試料のサイズ、重量、媒体に関係なく、あらゆるアプリケーションに対応した最高の解像度のイメージングを一貫して行うことができます。

革命的なAFM-nDMA (動的粘弾性評価)

4成分(COC、PE、LLDPE、エラストマー)ポリマー(左)上の高解像度記憶弾性率マップ。個別のポイントで収集されたストレージモジュラススペクトル(右)。

ナノスケールでのポリマーの完全かつ定量的な粘弾性解析が可能なAFMは、レオロジー的に適切な周波数で材料をプローブし、線形領域での測定を可能にしました。独自のデュアルチャンネル検出、位相ドリフト補正、基準周波数トラッキングにより、バルクDMAに直接関連する貯蔵弾性率、損失弾性率、損失正接のナノスケール測定のために、レオロジー的に適切な0.1 Hz~20 kHzの範囲の微小ひずみ測定が可能になりました。

ブルカー独自のDataCube モード

これらのモードはFASTForce Volume上で動作し、ユーザーが定義するプローブの作動時間内において、すべてのピクセルでForce -Distance スペクトルを取得します。高いデータキャプチャレートを使用すると、接触時間中に電気測定が実行され、各ピクセルで電気および機械的スペクトルが得られます。DataCubeモードは、1回の実験で完全な特性評価を提供しますが、これは今日の商用で他に類を見ません。

次元XRのDataCubeモードは、すべてのピクセルで多次元ナノスケール情報を提供し、同時に電気的および機械的特性の両方の単一の測定でキャプチャします。
DCUBE-PFM測定では、BiFeO3薄膜上の個別ピクセルごとに異なる電位レベルでドメインが反転することを明確に示しています。

ブルカーだけの PeakForce SECM

(A) Brukerの専用のプリマウントされたPeakForce SECMプローブは、簡単で安全なハンドリングを提供し、イメージングと複数のクリーニングサイクルの時間にわたって非常に安定したパフォーマンスを提供します。(B) プローブのSEM画像(C) 10 mM [Ru(NH3)6]3+プロファイルのCOMSOLシミュレーション;(D) スキャン速度20 mV/sで50連続スキャンから選択された1st、25th、50th CV(E) -0.1 V 対 AgQRE での 2 時間のアンペロメトリックテスト、 70 ~ 120 分の差圧倍率;(F)シミュレートされた(破線)と実験(実線)が近づく曲線。CとEの画像は、C.シャンとY.チェン、カルテックの礼儀。

100nmを上回る空間分解能で、SECMモードは液体中の電気化学的プロセスのナノスケール可視化が可能であることを証明しました。は、従来のアプローチに比べて分解能を大幅な向上を達成しています。これにより、エネルギー貯蔵システム、腐食科学およびバイオセンサーの全く新しい研究が可能になり、個々のナノ粒子、ナノ相およびナノ細孔の新規研究領域の扉を開きます。PeakForce SECMは、ナノスケールの横方向分解能を備えたトポグラフィ、電気化学、電気、およびメカニカル特性マップの同時キャプチャを実現する唯一のモードです

アプリケーション

AFMモード

AFM モードでアプリケーションを拡張する

使用可能なイメージングモードの比類のないスイートで、Brukerはあらゆる調査のためのAFM技術を持っています。

コアイメージングモードのバックボーン(コンタクトモードとタッピングモード)に基づいて構築されたBrukerは、サンプルの電気的、磁気的、または材料特性を調査できるAFMモードを提供します。Brukerの革新的な新しいPeakForceのタッピング技術は、いくつかのモードに組み込まれた新しいコアイメージングパラダイムを表し、地形、電気、機械的特性データを並行して提供します。

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