Atomic Force Microscope

Dimension XR

나노기계, 나노전기 및 나노 전기 화학을 위한 최고의 연구 시스템

하이라이트

Dimension XR

Bruker의 Dimension XR scanning probe microscope (SPM) 시스템은 수십 년간의 연구 및 기술 혁신을 통합합니다. 일상적인 원자 결함 해상도와 PeakForce Tapping ®, DataCube 모드, SECM 및 AFM-nDMA를 포함한 수많은 고유한 기술을 통해 최고의 성능과 기능을 제공합니다. SPM의 Dimension XR 제품군은 이러한 기술을 나노 기계, 나노전기 및 전기 화학 응용 분야를 다루기 위한 턴키 솔루션으로 제시합니다. 공기, 유체, 전기 또는 화학적 반응 환경에서 재료 및 활성 나노 스케일 시스템의 정량화는 그 어느 때보다 쉬워졌습니다.

초분광
나노전기 특성화
기능성 재료, 반도체 및 에너지 연구의 특성화를 위한 가장 완벽한 전기 AFM 기술이 포함되어 있습니다.
100nm 이하
전기 화학적 이미징
배터리, 연료 전지 및 부식과 관련된 국소 전기 화학 활동의 정량적 분석을 위한 고해상도의 토탈 솔루션을 제공합니다.
격이 다름
나노 기계적 분석
재료의 나노 기계적 특성과 구조를 연관시킬 수 있는 완전 정량적 턴키 기술 제품군을 제공합니다.

특징

최고의 성능으로 최초이자 유일한 AFM 기능 지원

고급 연구를 위해 최적화된 구성

XR 나노역학

XR Nanomechanics는 공간 해상도의 가장 작은 구조부터 폴리머 체인의 하위 분자 단위에 이르기까지 포괄적으로 검출할 수 있는 다양한 모드를 제공합니다. 연구자들은 당사의 독점 AFM-nDMA™ 모드와 대량 DMA 및 나노인덴테이션 방법에 대한 나노 역학 데이터의 상관관계를 보여줍니다. 부드럽고 끈적끈적한 하이드로겔과 복합재료에서 딱딱한 금속과 세라믹까지 확장가능한 정량형 나노스케일 특성화를 달성하십시오.

XR 나노전기

Dimension XR 나노전기 구성은 단일 시스템에서 가장 광범위한 전기 AFM 기술을 포함합니다. 연구원은 독점적인 DataCube 모드를 통해 기계적 특성 측정과 상관 관계가 있는 모든 픽셀에서 전기적 스펙트럼을 포착합니다. 이 시스템은 단일 측정에서 이전에는 얻을 수 없었던 정보를 제공합니다.

XR 나노 전기 화학 물질

나노전기 구성은 강력한 AFM 기반 스캐닝 전기화학 현미경 검사법(AFM-SECM) 및 전기화학적 AFM(EC-AFM)을 가능하게 합니다. AFM 사용자는 100nm 이하의 전기화학 정보를 취득하고 단일 시스템에서 전기화학, 전기 및 기계적 매핑을 동시에 수행합니다.

모든 모드, 모든 환경에서의 고해상도

액체 및 stiffness maps의 점결함에서부터 공기 및 전도성 맵의 원자 해상도에 이르기까지 Dimension XR 시스템은 모든 측정에서 고해상도를 제공합니다. 이들은 결정 결함 해상도와 폴리머의 분자 결함을 포함한 하드 및 소프트 물질 성능 벤치마크를 달성하기 위해 브루커의 독자적인 PeakForce Tapping 기술을 활용합니다. 동일한 기술은 수백 개의 이미지를 통해 거칠어진 유리의 가장 작은 거칠기를 해결하는 데 똑같이 중요한 역할을 합니다. 이 시스템은 피크포스 태핑과 최고의 안정성, 독특한 프로브 기술, 브루커의 팁 스캐닝 혁신에 대한 수십 년의 경험을 결합합니다. 그 결과 샘플 크기, 무게 또는 매체와 완전히 독립적이며 모든 응용 분야에서 일관되게 고해상도 이미징을 수행 할 수 있습니다.

혁신적인 AFM-nDMA

4개 구성 요소(COC, PE, LLDPE, elastomer) 고분자(왼쪽)에 대한 고해상도 storage modulus map. 개별 지점에서 수집된 storage Modulus spectra (오른쪽).

최초로 AFM은 선형 영역에서 운율학적으로 관련된 빈도에서 물질을 조사하는 나노 스케일에서 고분자의 완전하고 정량적인 점성탄성 분석을 제공할 수 있습니다. 독점 dual-channel detection, phase-drift correction 및 관련 빈도 추적을 통해 storage modulus, 손실 계수 및 대량 DMA와 직접 연결하는 loss tangent의 나노 스케일 측정을 위해 운율학적으로 관련된 0.1Hz ~ 20kHz 범위에서 작은 변형  측정을 가능하게 합니다.

독점 데이터 큐브 모드

이러한 모드는 사용자가 정의한 dwell time으로 모든 픽셀에서 힘 거리 스펙트럼을 수행하기 위해 FASTForce Volume을 사용합니다. 높은 데이터 캡처 속도를 사용하여, 다수의 전기 측정은 dwell time동안 수행되며 모든 픽셀에서 전기 및 기계적 스펙트럼이 발생한다. DataCube 모드는 상용 AFM에서는 찾오볼 수 없는 단일 실험에서 완전한 특성을 제공합니다.

Dimension XR의 DataCube 모드는 모든 픽셀에서 다차원 나노 스케일 정보를 제공하며, 동시에 전기 및 기계적 특성 모두 단일 측정으로 포착합니다.
DCUBE-PFM 측정은 BiFeO3 박막의 각 개별 픽셀에 대해 서로 다른 잠재적 수준에서 뒤집는 도메인을 명확하게 보여줍니다.

독점 PeakForce SECM

(A) 브루커의 독점적인 사전 장착 된 PeakForce SECM 프로브는 쉽고 안전한 취급이 가능하며 이미징 및 여러 세척 주기에 걸쳐 매우 안정적인 성능을 제공합니다. (B) 프로브의 SEM 이미지; (C) 10mM [Ru(NH3)6]3+ 프로파일의 COMSOL 시뮬레이션; (D) 20mV/s의 스캔 속도로 50개의 연속 스캔에서 선택된 1차, 25일 및 50번째 CV; (E) -0.1 V 대 AgQRE 에서 2시간 전류계 시험, 70~12분 배율 삽입; (F) 시뮬레이션(점선) 및 실험(실선) 곡선에 접근. C와 E 이미지 제공 : C. Xiang and Y. Chen, Caltech.

공간 해상도가 100nm 미만인 이 모드는 액체 내 전기 및 화학 공정의 나노 스케일 시각화로 가능한 것을 재정의합니다. PeakForce SECM은 크기의 순서에 따라 기존의 접근 방식에 대한 해결 능력을 대폭 향상시킵니다. 이를 통해 에너지 저장 시스템, 부식 과학 및 바이오 센서에 대한 완전히 새로운 연구가 가능해져 개별 나노 입자, 나노 위상 및 나노 포어에 대한 새로운 측정의 문이 열렸습니다. PeakForce SECM만이 나노미터 규모의 측면 해상도를 갖춘 지형, 전기 화학, 전기 및 기계 지도의 동시 캡쳐를 제공합니다.

응용

AFM 모드

AFM 모드로 애플리케이션 확장

타의 추종을 불허하는 이미징 모드 제품군을 갖춘 Bruker는 모든 연구를 위한 AFM 기술을 보유하고 있습니다.

핵심 이미징 모드(Contact Mode와 Tapping Mode)의 근본을 기반으로 구축된 Bruker는 사용자가 샘플의 전기적, 자기적 또는 재료 특성을 조사할 수 있는 AFM 모드를 제공합니다. Bruker의 혁신적인 새로운 PeakForce Tapping 기술은 지형, 전기 및 기계적 특성 데이터를 병렬로 제공하는 여러 모드에 통합된 새로운 핵심 이미징 패러다임을 나타냅니다.

웨비나

추가 정보

전문가에게 문의하십시오.

문의

* Please fill out the mandatory fields.

Please enter your first name
Please enter your last name
Please enter your e-mail address
Please enter a valid phone number
Please enter your Company/Institution
What best describes your current interest?
I would like to receive related product announcements, webinar invitations, and event information via email. [NOTE: You can opt-out at any time].
Please accept the Terms and Conditions

이 사이트는 Google과 reCAPTCHA의 보호를 받습니다. 개인 정보 보호 정책 서비스 약관 지원하다.