Dimension XR
Dimension XR
Bruker의 Dimension XR scanning probe microscope (SPM) 시스템은 수십 년간의 연구 및 기술 혁신을 통합합니다. 일상적인 원자 결함 해상도와 PeakForce Tapping ®, DataCube 모드, SECM 및 AFM-nDMA를 포함한 수많은 고유한 기술을 통해 최고의 성능과 기능을 제공합니다. SPM의 Dimension XR 제품군은 이러한 기술을 나노 기계, 나노전기 및 전기 화학 응용 분야를 다루기 위한 턴키 솔루션으로 제시합니다. 공기, 유체, 전기 또는 화학적 반응 환경에서 재료 및 활성 나노 스케일 시스템의 정량화는 그 어느 때보다 쉬워졌습니다.
모든 모드, 모든 환경에서의 고해상도
액체 및 stiffness maps의 점결함에서부터 공기 및 전도성 맵의 원자 해상도에 이르기까지 Dimension XR 시스템은 모든 측정에서 고해상도를 제공합니다. 이들은 결정 결함 해상도와 폴리머의 분자 결함을 포함한 하드 및 소프트 물질 성능 벤치마크를 달성하기 위해 브루커의 독자적인 PeakForce Tapping 기술을 활용합니다. 동일한 기술은 수백 개의 이미지를 통해 거칠어진 유리의 가장 작은 거칠기를 해결하는 데 똑같이 중요한 역할을 합니다. 이 시스템은 피크포스 태핑과 최고의 안정성, 독특한 프로브 기술, 브루커의 팁 스캐닝 혁신에 대한 수십 년의 경험을 결합합니다. 그 결과 샘플 크기, 무게 또는 매체와 완전히 독립적이며 모든 응용 분야에서 일관되게 고해상도 이미징을 수행 할 수 있습니다.
혁신적인 AFM-nDMA
최초로 AFM은 선형 영역에서 운율학적으로 관련된 빈도에서 물질을 조사하는 나노 스케일에서 고분자의 완전하고 정량적인 점성탄성 분석을 제공할 수 있습니다. 독점 dual-channel detection, phase-drift correction 및 관련 빈도 추적을 통해 storage modulus, 손실 계수 및 대량 DMA와 직접 연결하는 loss tangent의 나노 스케일 측정을 위해 운율학적으로 관련된 0.1Hz ~ 20kHz 범위에서 작은 변형 측정을 가능하게 합니다.
독점 데이터 큐브 모드
이러한 모드는 사용자가 정의한 dwell time으로 모든 픽셀에서 힘 거리 스펙트럼을 수행하기 위해 FASTForce Volume을 사용합니다. 높은 데이터 캡처 속도를 사용하여, 다수의 전기 측정은 dwell time동안 수행되며 모든 픽셀에서 전기 및 기계적 스펙트럼이 발생한다. DataCube 모드는 상용 AFM에서는 찾오볼 수 없는 단일 실험에서 완전한 특성을 제공합니다.
독점 PeakForce SECM
공간 해상도가 100nm 미만인 이 모드는 액체 내 전기 및 화학 공정의 나노 스케일 시각화로 가능한 것을 재정의합니다. PeakForce SECM은 크기의 순서에 따라 기존의 접근 방식에 대한 해결 능력을 대폭 향상시킵니다. 이를 통해 에너지 저장 시스템, 부식 과학 및 바이오 센서에 대한 완전히 새로운 연구가 가능해져 개별 나노 입자, 나노 위상 및 나노 포어에 대한 새로운 측정의 문이 열렸습니다. PeakForce SECM만이 나노미터 규모의 측면 해상도를 갖춘 지형, 전기 화학, 전기 및 기계 지도의 동시 캡쳐를 제공합니다.
AFM 모드로 애플리케이션 확장
타의 추종을 불허하는 이미징 모드 제품군을 갖춘 Bruker는 모든 연구를 위한 AFM 기술을 보유하고 있습니다.
핵심 이미징 모드(Contact Mode와 Tapping Mode)의 근본을 기반으로 구축된 Bruker는 사용자가 샘플의 전기적, 자기적 또는 재료 특성을 조사할 수 있는 AFM 모드를 제공합니다. Bruker의 혁신적인 새로운 PeakForce Tapping 기술은 지형, 전기 및 기계적 특성 데이터를 병렬로 제공하는 여러 모드에 통합된 새로운 핵심 이미징 패러다임을 나타냅니다.
Dimension XR 데이터 갤러리
