DIFRACCIÓN de rayos X (RDX)

D8 ADVANCE

The Quick Change Artist
HerostageD8ADVANCE

Lo más destacado

El D8 ADVANCE: Una solución única para XRD, PDF y SAXS

0D-1D-2D
La calidad de los datos cuenta en todas las dimensiones
Siempre el mejor detector sea la aplicación: las tasas de recuento más altas, el rango dinámico y la resolución de energía
Davinci
Todo uso y prueba de futuro
Diseño abierto y modularidad sin restricciones, junto con máxima facilidad de uso, comodidad de funcionamiento y manejo seguro. Ese es el DAVINCI de Bruker. Diseño
≤0.01o 2Ɵ
Precisión en posiciones pico
Sólo Bruker ofrece una garantía de alineación en toda la gama angular basada en el material de referencia estándar NIST SRM 1976c
Garantía de alineación única de Bruker
Aprende más

Vea nuestro video sobre D8 ADVANCE (XRD)

El D8 ADVANCE es una plataforma de difracción de rayos X que se adapta fácilmente para satisfacer una amplia gama de necesidades analíticas.

D8 ADVANCE – la solución a prueba de futuro en difracción de rayos X

D8 ADVANCE X-RAY DIFFRACTOMETER

El D8 ADVANCE se basa en la exclusiva plataforma de la familia de difractómetros D8 y está perfectamente diseñado para todas las aplicaciones de difracción y dispersión de polvo de rayos X, incluyendo:

  • difracción de polvo de rayos X tradicional (RDX)
  • Análisis de la función de distribución de pares (PDF)
  • Dispersión de rayos X de ángulo pequeño y ancho (SAXS, WAXS)

Debido a su excelente adaptabilidad, el D8 ADVANCE tiene la capacidad de medir todos los tipos de muestras, desde líquidos hasta polvos sueltos, desde películas delgadas hasta bloques sólidos, en un solo instrumento.

No importa si usted es un usuario principiante o experto, los cambios de configuración son rápidos, fáciles e infalibles. Todo esto es posible gracias al DAVINCI único de Bruker. DESIGN: Cambios sin herramientas y sin alineación de la configuración del instrumento, soportados por el reconocimiento y validación automáticos de componentes en tiempo real.

Aún más: sólo Bruker ofrece una garantía de alineación basada en el material de referencia estándar NIST SRM1976. No hay ningún otro difractómetro de polvo en el mercado que exceda la precisión de un D8 ADVANCE en términos de posiciones pico, intensidades y resolución.

Características

Características principales

Características de D8 ADVANCE

Doble / TWIN óptica

El diseño patentado de la trayectoria del haz óptico TWIN / TWIN simplifica en gran medida el uso del D8 ADVANCE, permitiendo una gran variedad de aplicaciones y tipos de muestras. Con la comodidad del usuario en mente, el sistema cuenta con conmutación motorizada automática entre 4 geometrías de haz diferentes. Sin la intervención manual del usuario, el sistema es capaz de cambiar entre el enfoque Bragg-Brentano para polvos y geometría de haz paralelo para muestras mal formadas, recubrimientos y películas delgadas y todo lo demás. Es perfectamente adecuado para todos los tipos de muestras, incluyendo polvo, volumen, fibra, lámina y película delgada (amorfo, policristalilina y epitaxial) en condiciones ambientales o no ambientales.

Características de D8 ADVANCE

Optimización dinámica de ™ (DBO)

La característica DBO única de Bruker establece un nuevo punto de referencia significativo en términos de calidad de datos para la difracción de rayos X. La sincronización automática de las ranuras de divergencia motorizadas, una pantalla anti-dispersión motorizada y la ventana de detector activo de campo de visión variable proporciona una calidad de datos sin igual, específicamente en ángulos bajos 2Ɵ. DBO es compatible con todos los miembros de la familia de detectores LYNXEYE: SSD160-2, LYNXEYE-2 y LYNXEYE XE-T.

Características de D8 ADVANCE

LYNXEYE XE-T

El LYNXEYE XE-T es el buque insignia dentro de la familia de detectores LYNXEYE. El LYNXEYE XE-T es el único detector de dispersión de energía en el mercado para la adquisición de datos 0D, 1D y 2D. Adecuado para todas las longitudes de onda (desde Cr a Ag), con la capacidad de mayor velocidad de recuento y la mejor resolución angular, el detector es ideal para todas las aplicaciones de difracción y dispersión de rayos X.
La excelente resolución de energía del LYNXEYE XE-T, superior a 380 eV, lo convierte en el sistema de detectores de mayor rendimiento del mercado en términos de filtrado de fluorescencia. Con el detector LYNXEYE XE-T Fe fluorecense excitado por la radiación Cu se filtra 100% a cero pérdida de intensidad y no hay necesidad de filtros de metal que causen artefactos en los datos tales como remanentes K y bordes de absorción. Además, ya no es necesario que los monocromóficos secundarios que matan la intensidad.
El LYNXEYE XE-T está cubierto por la garantía única del detector Brukers: No hay canales defectuosos en el momento de la entrega. ¡Garantizado!

Aplicaciones

Un difractómetro - Todas las aplicaciones

Aplicaciones D8 ADVANCE

Difracción de polvo

Las técnicas de difracción de polvo de rayos X (XRPD) se encuentran entre las herramientas más importantes para la caracterización de materiales. Gran parte de la información incrustada en un patrón de polvo se deriva directamente de la disposición atómica de las fases presentes. El D8 ADVANCE y el DIFFRAC. El software SUITE permite la ejecución simple de métodos XRPD comunes:

  • Identificación de fases cristalinas y amorfas y determinación de la pureza de los especímenes
  • Análisis cuantitativo de fases cristalinas y amorfas en mezclas multifásicas
  • Análisis de microestructuras (tamaño de cristalita, microformación, trastorno...)
  • Tensión residual a granel resultante del tratamiento térmico o mecanizado en componentes fabricados
  • Análisis de textura (orientación preferida)
  • Indexación, determinación de la estructura cristalina ab-initio y refinamiento de la estructura cristalina
Aplicaciones D8 ADVANCE

Análisis de funciones de distribución de pares

El análisis de la función de distribución de pares (PDF) es una técnica analítica que proporciona información estructural de materiales desordenados basados en Bragg, así como dispersión difusa ("Dispersión total"). Mientras que los picos Bragg proporcionan información sobre la estructura de cristal promedio de un material (es decir, orden de largo alcance), la dispersión difusa permite la caracterización de su estructura local (es decir, orden de corto alcance).
El software D8 ADVANCE y TOPAS representan las soluciones de análisis de PDF de mayor rendimiento en el mercado en términos de velocidad de análisis, calidad de datos y resultados para el análisis de materiales amorfos, poco cristalinos, nanocristalinos o nanoestructurados:

  • Identificación de fase
  • Determinación y refinamiento de la estructura
  • Nano partícula tamaño y forma
Aplicaciones D8 ADVANCE

Películas y recubrimientos finos

El análisis de películas y revestimientos finos se basa en los mismos principios de XRPD, pero con más acondicionamiento de haz y control angular. Los ejemplos típicos incluyen, pero no se limitan a, identificación de fase, calidad cristalina, tensión residual, análisis de textura, determinación de espesor y composición frente al análisis de deformación unitaria. El análisis de películas delgadas y recubrimientos se centra en las propiedades de los materiales en capas con espesor de nm a m, que van desde recubrimientos amorfos y policristalinos hasta películas cultivadas epitaxialmente. El D8 ADVANCE y el DIFFRAC. El software SUITE permite análisis de alta calidad de películas delgadas, incluyendo:

  • Difracción de incidencia de pastoreo
  • Reflectometría de rayos X
  • Difracción de rayos X de alta resolución
  • Mapeo de espacios recíprocos

Especificaciones

D8 ADVANCE Especificaciones

Característica

Especificación

Ventaja

Óptica TRIO y TWIN

Interruptor pulsador de software entre:

Hendidura de divergencia motorizada (Bragg-Brentano)

Alta Intensidad Ka1,2 Rayo Paralelo

Viga paralela Ka1 de alta resolución

Patentes: US10429326, US6665372, US7983389

Cambio motorizado totalmente automático entre hasta 6 geometrías de haz diferentes sin intervención manual del usuario

Perfectamente adecuado para todo tipo de muestras, incluyendo polvos, materiales a granel, fibras, láminas y películas delgadas (amorfo, policristalino y epitaxial)

Optimización dinámica del haz

Sincronización dinámica de:

rendijas de divergencia motorizadas

pantalla motorizada anti-dispersión

ventana variable del detector activo

2Ɵ Rango angular: <1 a >150

Datos prácticamente libres de dispersión de aire, instrumento y soporte de muestra

Límites inferiores significativamente mejorados de detección que permiten la cuantificación para fases cristalinas y amorfas menores

Rendimiento sin igual en ángulos de baja 2Ɵ que permiten investigaciones precisas de arcillas, productos farmacéuticos, zeolitas, materiales marco porosos y más

LYNXEYE XE-T

Resolución de energía: < 380 eV a 8 KeV

Modos de detección: 0D, 1D, 2D

Longitudes de onda: Cr, Co, Cu, Mo y Ag

Patentes: EP1647840, EP1510811, US20200033275

No hay necesidad de filtros K y monocromadores secundarios

Filtrado 100% de Fe-fluorescense con radiación Cu

Hasta 450 veces más rápido que los sistemas de detectores convencionales

BRAGG2D: Recopile datos 2D con un haz de línea primario divergente

Garantía única del detector: No hay canales defectuosos en el momento de la entrega

EIGER2 R

El detector multimodo de última generación (0D/1D/2D) basado en la tecnología Hybrid Photon Counting, desarrollado por Dectris Ltd.

Integración perfecta de la detección 0D, 1D y 2D en modos de escaneo pasos, continuos y avanzados

Rotación ergonómica y sin alineación del detector para optimizar la cobertura angular de γ o 2Ɵ

La óptica de haz difractada panorámica y sin herramientas utilizando el campo de visión completo del detector

Posicionamiento del detector continuamente variable para equilibrar la cobertura angular y la resolución

Giro. Tubo

Interruptor fácil, rápido y sin alineación entre aplicaciones de enfoque de línea y punto

Sin desconexión de cables eléctricos o mangueras de agua ni desmontaje de tubos

Davinci. DESIGN: Detección y configuración totalmente automáticas de la orientación del enfoque

Cambiadores de muestra

FLIPSTICK: 9 muestras

AUTOCHANGER: 90 muestras

Operación en la reflexión Y geometrías de transmisión

D8 Goniómetro

Goniómetro de dos círculos con motores paso a paso independientes y encoders ópticos

Precisión y precisión sin igual, como la garantía de alineación única de Bruker

Mecanismo / engranajes de accionamiento sin mantenimiento absolutamente libre con lubricación de por vida

No ambiental

Temperatute: Desde -4K hasta 2500K

Comprobación: 10-⁴ mbar hasta 100 bar

Humedad: 5% a 95%

Investigaciones en condiciones ambientales y no ambientales

Fácilmente intercambiadas por DIFFRAC. Davinci

Accesorios

XRD Components

XRD Components

Bruker XRD solutions consist of high performance components configured to meet the analytical requirements. The modular design is the key to configure the best instrumentation.

All categories of components are part of Bruker’s key competence, developed and manufactured by Bruker AXS, or in close cooperation with third party vendors.

Bruker XRD components are available for upgrading the installed X-ray systems for improving their performance.

Software

PLAN.MEASURE.ANALYZE with DIFFRAC.SUITE

DIFFRAC.SUITE Software

DIFFRAC.SUITE™ offers a wide range of software modules for easy X-ray powder diffraction data acquisition and evaluation. Based on Microsoft's .NET technology, DIFFRAC.SUITE offers all the advantages of modern software technology for stability, maximum ease of use and networking.

The fully customizable user-interface is characterized by a plug-in framework, providing a common look, feel and operation. All measurement and evaluation software modules can be operated as individual applications or integrated together in DIFFRAC.SUITE's plug-in framework. Unlimited networking allows access and control of any number of D2 PHASER, D8 ADVANCE, D8 DISCOVER and D8 ENDEAVOR diffractometers within a customer's network.

Measurement Software:
WIZARD – Method planning
COMMANDER – Method execution and direct measurements
TOOLS – Service Interface
Powder Diffraction Software:
DQUANT – Quantitative phase analysis
EVA – Phase identification and quantitative phase analysis
TOPAS – Profile analysis, quantitative analysis, structure analysis

Materials Research Software:
SAXS – Small Angle X-ray Scattering software
XRR – Comprehensive X-ray reflectometry analysis
TEXTURE – All-round Texture analysis meets ease-of-use
LEPTOS – Thin film analysis/Residual stress investigation

Webinars

Soporte

Servicio y soporte

Proporcionamos:

  • Soporte técnico de asistencia técnica de profesionales altamente cualificados en solución de problemas para aislar y resolver problemas de hardware y software
  • Servicio de instrumentos remotos basado en web para el diagnóstico de servicio y soporte de aplicaciones
  • Soporte de realidad combinada – un ingeniero virtual a su lado (vídeo)
  • Mantenimiento planificado, de acuerdo a sus necesidades
  • Servicio de reparación y mantenimiento in situ del cliente
  • La disponibilidad de piezas de repuesto normalmente durante la noche o dentro de unos pocos días laborables en todo el mundo
  • Servicios de cumplimiento para la calificación de la instalación, calificación operativa / verificación del rendimiento
  • Planificación y reubicación del sitio
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