QUANTAX Compact
El innovador y fácil de usar sistema EDS
QUANTAX Compact consta de un detector de deriva de silicio (SDD) XFlash® 730M, una pequeña unidad electrónica y el software intuitivo ESPRIT Compact. El sistema realiza análisis cualitativos y cuantitativos de todos los materiales con un rango de elementos que va desde el boro (5) hasta el californio (98).
Además del análisis de composición en puntos individuales de la superficie de la muestra, QUANTAX Compact proporciona potentes funciones de escaneo de línea y mapeo de elementos espectrales. Mediante el uso de QUANTAX Compact, el análisis y la generación de informes se completan en cuestión de segundos.
El detector XFlash 730M SD
Software ESPRIT Compact con mapeo, informe, escaneo de línea y espectro (de izquierda a derecha).
Características clave
- Adquisición de datos de alta resolución
- Tres modos de análisis diferentes: Objetos, LineScan y Mapping
- Identificación automática/interactiva de elementos a partir de boro (5)
- Cuantificación precisa de elementos durante la adquisición
- Visualización de resultados cuantitativos como porcentaje atómico, de peso u óxido
- Distribuciones de concentración codificadas por colores (mapas de elementos) para cualquier número de elementos dentro de un campo de visión arbitrario, incluida una separación de picos en vivo única y eliminación de fondo
- Generación de informes y formato de impresión
- Exportación de resultados a MS® Word y Excel
- Opciones de idioma: inglés, alemán, español, francés, ruso, chino, japonés
Para soluciones especiales, visite QUANTAX 75, QUANTAX 80 y QUANTAX Compact30.