QUANTAX Compact
Das innovative, einfach zu bedienende EDS-System
QUANTAX Compact besteht aus einem XFlash® 730M Silizium-Driftdetektor (SDD), einer kleinen Elektronikeinheit und der intuitiven Software ESPRIT Compact. Das System führt qualitative und quantitative Analysen aller Materialien mit einem Elementbereich von Bor (5) bis Californium (98) durch.
Neben der Analyse der chemischen Zusammensetzung an einzelnen Stellen auf der Probenoberfläche bietet QUANTAX Compact leistungsstarke Linescan- und hyperspektrale Mapping-Funktionen. Mit QUANTAX Compact ist die Analyse und Berichterstattung innerhalb von Sekunden abgeschlossen.
Der XFlash® 730M SD-Detektor
ESPRIT Compact Software mit Mapping, Report, Line Scan und Spektrum (v.l.n.r.).
Hauptmerkmale
- Hochauflösende Datenaufnahme
- Drei verschiedene Analysemodi: Objekte, LineScan und Mapping
- Automatische/interaktive Elementidentifikation ab Bor (5)
- Genaue Elementquantifizierung während der Erfassung
- Anzeige quantitativer Ergebnisse als Atom-, Gewichts- oder Oxidprozent
- Farbkodierte Konzentrationsverteilungen (Mapping) für eine beliebige Anzahl von Elementen innerhalb eines beliebigen Probenbereiches, einschließlich einer akkuraten Peak-Trennung und Abzug des Bremsstrahluntergrundes in Echtzeit
- Berichtsgenerierung und Druckformatierung
- Export von Ergebnissen in MS® Word und Excel
- Sprachoptionen: Englisch, Deutsch, Spanisch, Französisch, Russisch, Chinesisch, Japanisch
Spezielle Lösungen finden Sie unter QUANTAX 75, QUANTAX 80 und QUANTAX Compact30.