QUANTAX Compact

创新、易于使用的 EDS 系统

QUANTAX Compact 由 XFlash® 600 迷你硅漂移探测器 (SDD)、小型电子装置和软件 ESPRIT Compact组成。该系统对从硼(5) 到锎 (98) 的所有材料进行定性和定量分析。

除了在样品表面各个点进行成分分析外,QUANTAX Compact还提供强大的线扫描和元素面分析功能。通过使用 QUANTAX Compact,分析和报告将在几秒钟内完成。

XFlash 600 迷你硅漂移探测器
ESPRIT Compact软件,具有元素面分析、报告、线扫描和光谱(从左到右)。

主要功能

  • 高分辨数据采集
  • 三种不同的分析模式:选区分析、线扫描和面分析
  • 自动/交互式元素识别从硼(5) 开始
  • 采集过程中精确量化元素成分
  • 将定量结果显示为原子、重量或氧化物百分比
  • 任意视野中任意数量的元素(颜色编码浓度分布),包括独特的实时谱峰剥离和背景去除
  • 报表生成和打印格式
  • 支持 MS® Word 和 Excel 导出结果
  • 语言选项: 英语, 德语, 西班牙语, 法语, 俄语, 中文, 日语

有关特殊解决方案,请访问 QUANTAX 75、QUANTAX 80 和QUANTAX Compact30。