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QUANTAX 80

Das EDS-System für das Hitachi FlexSEM1000

QUANTAX 80 ist ein neues EDS-System, das speziell für das Hitachi FlexSEM1000 Mikroskop entwickelt wurde. QUANTAX 80 besteht aus einem XFlash® Silizium-Driftdetektor (SDD) mit der besten Energieauflösung in seinem Bereich, einer kompakten Elektronikeinheit und einer einfach zu bedienenden ESPRIT Compact Software.

Das System führt qualitative und quantitative Analysen aller Materialien mit einem Elementbereich von Bor (5) bis Californium (98) durch. Neben der Analyse der chemischen Zusammensetzung an einzelnen Stellen auf der Probenoberfläche bietet QUANTAX 80 leistungsstarke Linescan- und hyperspektrale Mapping-Funktionen. Mit QUANTAX 80 ist die Analyse und Berichterstellung innerhalb von Sekunden abgeschlossen.

XFlash 630 H SD-Detektor
ESPRIT Compact Software mit Mapping, Report, Line Scan und Spektrum (v.l.n.r.).

Hauptmerkmale

  • Hochauflösende Datenaufnahme
  • Drei verschiedene Analysemodi: Objekte, LineScan und Mapping
  • Automatische/interaktive Elementidentifikation ab Bor (5)
  • Genaue Elementquantifizierung während der Erfassung
  • Anzeige quantitativer Ergebnisse als Atom-, Gewichts- oder Oxidprozent
  • Farbkodierte Konzentrationsverteilungen (Mapping) für eine beliebige Anzahl von Elementen innerhalb eines beliebigen Probenbereiches einschließlich einer akkuraten Peak-Trennung und Abzug des Bremsstrahlungsuntergrundes in Echtzeit
  • Berichtsgenerierung und Druckformatierung
  • Export von Ergebnissen in MS® Word und Excel
  • Sprachoptionen: Englisch, Deutsch, Spanisch, Französisch, Russisch, Chinesisch, Japanisch