XFlash® 7 - Die neue EDS-Detektorserie
Energiedispersive Spektroskopie für REM, FIB-REM und Mikrosonde
XFlash® 7 - Der EDS-Detektor für Rasterelektronmikroskopie
Bisher unerreichbare Analysegeschwindigkeiten erzielen.
Höchst komplexe Proben mit der umfassenden atomaren Datenbank inkl. K, L, M und N-Linien quantifizieren.
Maximaler Probendurchsatz durch optimale Geometrie für die effizienteste Sammlung der erzeugten Röntgenquanten.
Elementanalyse im Transmissionselektronenmikroskopie auf der Nanometerskala
XFlash® 7T - der EDS Detektor für TEM, STEM und T-REM
Eindeutige Identifizierung und Quantifizierung aller vorhandenen Elemente.
Erfolgreiche Quantifizierung in TEM, STEM und T-REM mit benutzerfreundlichen, leistungsstarken Methoden basierend auf theoretischen und experimentellen Cliff-Lorimer-Faktoren sowie Zeta-Faktor-Interpolation.
Hohe Stabilität und verbesserte Driftkorrektur erlauben das präzise Mappen von periodischen Strukturen (Atome, Schichten).
