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XFlash® 7 - 新一代能谱探头

深入了解 XFlash® 7 ! 

SEM, FIB-SEM 和 EPMA 上的能谱仪

XFlash® 7 - 扫描电子显微镜上的能谱仪

更快的分析速度

更全的元素线系

更强的定性能力

优化的结构设计

更高的产出效率

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透射电子显微镜上的纳米尺度元素分析

XFlash® 7T -  适用于 TEM, STEM 和 T-SEM 的能谱探头

使用更高能量的元素谱线，可以对全部元素进行更确定的定性定量分析

基于理论和实验基础的 Cliff-Lorimer 因子法，改进的Zeta-因子法的定量流程成熟易用，在 TEM，STEM 和 T-SEM 上都经过了长时间的验证

专门的漂移校正功能使周期性结构 （原子排列或多层结构）的元素面分布更加稳定，可以媲美非周期性样品

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网络研讨会

镍基单晶超合金中镍和铬的分布，在SEM中以高倍率获得
点播 - 32分钟

超高空间分辨率下的超快元素定性定量解决方案！

本次网络研讨会,通过对块状半导体和航空材料的应用案例，我们将为您展示布鲁克公司全新第七代XFlash EDS如何在低电压和高电压下实现亚10nm超高空间分辨率。
Elemental mapping ( chromium, iron and zirconium) of failed welding seam
ON-DEMAND SESSION - 41 MINUTES

Improving Efficiency with the XFlash 7 EDS Detector Family

In this webinar we present the benefits and increases in effiency that the new XFlash® 7 detector series delivers. We also introduce the workflow of ESPRIT LiveMap which allows users to carry out real-time chemical imaging.

 
XFlash 7 EDS detector series element analysis EDS
ON-DEMAND SESSION - 35 MINUTES

Introducing the XFlash® 7 EDS Detector

In this webinar we present the benefits of this new detector series and discuss specifics of microscope detector geometries. We also show examples of data acquisition and analysis across different fields of application. 

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