XFlash^® 7 - 新世代EDS検出器

Discover Your XFlash^® 7 Now!

SEM、FIB-SEM、EPMA用エネルギー分散型X線分析装置

XFlash^® 7 - 走査電子顕微鏡用 EDS検出器

最高の分析スピードを

K、L、M、N線を網羅するデータベースを用いて複雑なデータを定量

もっとも効率よくX線を検出する最適な配置で最大のスループットを

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透過電子顕微鏡でのナノスケール元素分析

XFlash^® 7T - TEM、STEM、T-SEM用EDS検出器

高エネルギーピークを用いて全ての元素を明確に同定・定量

理論的および実験的クリフロリマー因子、ゼータ因子に基づく強力なTEM用定量手法を手軽に利用可能

ドリフト補正による高い安定性で原子や層などの周期構造をマッピング

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ウェビナー

Elemental mapping ( chromium, iron and zirconium) of failed welding seam

ON-DEMAND SESSION - 41 MINUTES

Improving Efficiency with the XFlash 7 EDS Detector Family

In this webinar we present the benefits and increases in effiency that the new XFlash^®7 detector series delivers. We also introduce the workflow of ESPRIT LiveMap which allows users to carry out real-time chemical imaging.

XFlash 7 EDS detector series element analysis EDS

ON-DEMAND SESSION - 35 MINUTES

Introducing the XFlash^® 7 EDS Detector

In this webinar we present the benefits of this new detector series and discuss specifics of microscope detector geometries. We also show examples of data acquisition and analysis across different fields of application.

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