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Analysesysteme für Elektronenmikroskope

QUANTAX FlatQUAD

Höchste Effizienz bei der Röntgendetektion

Unübertroffener Durchsatz

Analysieren von empfindlichen Proben

XFlash_FlatQUAD_drop_shadow_4+5_cut_out

Highlights

1
nm
Ortsauflösung
Ortsauflösung im Nanometerbereich im REM
>1,1
sr
Größter Raumwinkel
Der Raumwinkel gibt die Effizienz an, welche der erzeugten Röntgenstrahlen geometrisch erfassbar sind.
2,400
kcps
Durchsatz
4-mal schneller als herkömmliche EDS-Detektoren

QUANTAX FlatQUAD - Wo herkömmliche SDDs ihre Grenzen erreichen

QUANTAX FlatQUAD ist das EDS-Mikroanalysesystem auf Basis des revolutionären XFlash® FlatQUAD. Dieser ringförmige Vierkanal-Silizium-Driftdetektor wird zwischen REM-Polschuh und Probe platziert, wodurch ein maximaler Raumwinkel bei EDS Applikationen erreicht wird. In Kombination mit ESPRIT, der Analysesoftware-Lösung, bietet QUANTAX FlatQUAD eine unübertroffene Mapping-Performance, selbst für die schwierigsten Proben.

  • Extrem schnelles Mapping mit nur moderaten Strahlströmen
  • Analyse von strahlempfindlichen Materialien bei extrem niedrigen Strahlströmen (< 10 pA), z.B. biologische oder Halbleiterproben
  • Untersuchung von Proben mit hoher Topographie, Vermeidung von Abschattungen
  • Analyse von Nanopartikeln und Nanostrukturen bei geringer Hochspannung und höchster Vergrößerung
  • Analyse von extrem dünnen Lamellen (z.B. TEM-Proben) und anderen Proben mit geringer Röntgenausbeute am REM.

Vorteile

Maximieren Sie Ihre Effizienz

Das einzigartige ringförmige Design des Bruker XFlash® FlatQUAD-Detektor und seine Positionierung zwischen REM-Polschuh und Probe führen zu einem unübertroffenen Raumwinkel, der sich direkt in schnellere Messungen niederschlägt. Zusammen mit der ESPRIT Software Suite ist der QUANTAX FlatQUAD das ideale Instrument zur Analyse z.B. empfindlicher Proben bei geringsten Strahlströmen oder Proben mit hoher Topographie.

Der XFlash® FlatQUAD verwandelt Ihr REM oder FIB in ein analytisches Niederspannungs-STEM, um elektronentransparente Proben mit höchster räumlicher und spektroskopischer Auflösung zeitnaher und kostengünstiger zu analysieren.

Um noch mehr Informationen aus Ihren elektronentransparenten Proben zu gewinnen, kombinieren Sie den XFlash® FlatQUAD zusammen mit dem eFlash EBSD Detektor mit OPTIMUS Detektorkopf. 

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