Rendimiento sin igual
Análisis de muestras sensibles
QUANTAX FlatQUAD es el sistema de microanálisis EDS basado en el revolucionario XFlash® FlatQUAD. Este detector anular de deriva de silicio de cuatro canales se inserta entre la pieza del polo SEM y la muestra, logrando el ángulo sólido máximo en EDS. En combinación con la suite de software analítico ESPRIT, QUANTAX FlatQUAD proporciona un rendimiento de mapeo sin igual, incluso para las muestras más difíciles.
El diseño anular único del detector Bruker XFlash® FlatQUAD y su posición entre la pieza del polo SEM y la muestra conducen a un ángulo sólido sin igual que se traduce directamente en mediciones más rápidas. Junto con la suite de software ESPRIT, el QUANTAX FlatQUAD proporciona el instrumento ideal para analizar, por ejemplo, muestras sensibles a corrientes de haz más bajas o muestras con topografía alta.
El XFlash® FlatQUAD también puede convertir su SEM o FIB en STEM analítico de bajo voltaje para analizar muestras transparentes de electrones a la resolución espacial y espectroscópica más alta de una manera más oportuna y rentable.
Para obtener aún más información de sus muestras transparentes de electrones, combine el XFlash® FlatQUAD con el detector EBSD eFlash equipado con cabezal OPTIMUS.