Analizadores de microscopio electrónico

QUANTAX FlatQUAD

Máxima eficiencia en la detección de rayos X

Rendimiento sin igual

Análisis de muestras sensibles

1
Nm
Resolución espacial
Resolución de nanoescala en SEM
>1.1
sr
El ángulo sólido más alto
El ángulo sólido indica la eficiencia de la colección geométrica de los rayos X generados
2,400
kcps
Rendimiento
4 veces más rápido que los detectores EDS convencionales

QUANTAX FlatQUAD - Donde los SDD convencionales alcanzan limitaciones

QUANTAX FlatQUAD es el sistema de microanálisis EDS basado en el revolucionario XFlash® FlatQUAD. Este detector anular de deriva de silicio de cuatro canales se inserta entre la pieza del polo SEM y la muestra, logrando el ángulo sólido máximo en EDS. En combinación con la suite de software analítico ESPRIT, QUANTAX FlatQUAD proporciona un rendimiento de mapeo sin igual, incluso para las muestras más difíciles.

  • Mapeo extremadamente rápido utilizando sólo corrientes de haz moderadas
  • Análisis de materiales sensibles al haz a corrientes de haz extremadamente bajas (< 10 pA), por ejemplo, muestras biológicas o semiconductoras
  • Investigación de muestras con topografía, evitando efectos de sombreado
  • Análisis de nanopartículas y nanoestructuras a baja kV y mayor aumento
  • Medición de muestras delgadas (por ejemplo, lamelas TEM)y otras muestras con bajo rendimiento de rayos X en el SEM.

Maximice su eficiencia

El diseño anular único del detector Bruker XFlash® FlatQUAD y su posición entre la pieza del polo SEM y la muestra conducen a un ángulo sólido sin igual que se traduce directamente en mediciones más rápidas. Junto con la suite de software ESPRIT, el QUANTAX FlatQUAD proporciona el instrumento ideal para analizar, por ejemplo, muestras sensibles a corrientes de haz más bajas o muestras con topografía alta.

El XFlash® FlatQUAD también puede convertir su SEM o FIB en STEM analítico de bajo voltaje para analizar muestras transparentes de electrones a la resolución espacial y espectroscópica más alta de una manera más oportuna y rentable.

Para obtener aún más información de sus muestras transparentes de electrones, combine el XFlash® FlatQUAD con el detector EBSD eFlash equipado con cabezal OPTIMUS.