QUANTAX FlatQUAD
Taxa de transferência incomparável
Analisando Amostras Sensíveis
QUANTAX FlatQUAD - Onde os SDDs convencionais atingem as limitações
QUANTAX FlatQUAD é o sistema de microanálise EDS baseado no revolucionário XFlash® FlatQUAD. Este detector de desvio de silício de quatro canais anular é inserido entre a peça do pólo SEM e a amostra, alcançando o ângulo sólido máximo em EDS. Em combinação com o pacote de software analítico ESPRIT, o QUANTAX FlatQUAD oferece desempenho de mapeamento incomparável, mesmo para as amostras mais difíceis.
- Mapeamento extremamente rápido usando apenas correntes de feixe moderadas
- Análise de materiais sensíveis ao feixe em correntes de feixe extremamente baixas (< 10 pA), por exemplo. amostras biológicas ou semicondutoras
- Investigação de amostras com topografia, evitando efeitos de sombreamento
- Análise de nanopartículas e nanoestruturas em baixo kV e maior ampliação
- Medição de amostras finas (por exemplo, lamelas TEM) e outras amostras com baixo rendimento de raios-X no SEM.
Maximize sua Eficiência
O design anular exclusivo do detector Bruker XFlash® FlatQUAD e sua posição entre a peça do pólo SEM e a amostra levam a um ângulo sólido inigualável que se traduz diretamente em medições mais rápidas. Juntamente com o pacote de software ESPRIT, o QUANTAX FlatQUAD fornece o instrumento ideal para analisar, por exemplo, amostras sensíveis em correntes de feixe mais baixas ou amostras com topografia alta.
O XFlash® FlatQUAD também pode transformar seu SEM ou FIB em STEM analítico de baixa tensão para analisar amostras transparentes de elétrons na mais alta resolução espacial e espectroscópica de maneira mais rápida e econômica.
Para obter ainda mais informações de suas amostras transparentes de elétrons, combine o XFlash® FlatQUAD com um detector eFlash EBSD adaptado com cabeça OPTIMUS.
