电子显微镜分析仪

QUANTAX FlatQUAD

X射线检测的最高效率

无与伦比的高通量

分析敏感样品

XFlash_FlatQUAD_drop_shadow_4+5_cut_out

高亮

1
nm
空间分辨率
SEM 中的纳米级分辨率
>1.1
sr
最高固体角
固体角代表探测器采集样品产生的 X 射线的几何收集效率
2,400
kcps
高通量
比传统的 EDS 探测器快 4 倍

QUANTAX FlatQUAD - 突破传统 SDD 的极限

QUANTAX FlatQUAD 是基于革命性 XFlash® FlatQUAD 的 EDS 分析系统。这种环形四通道硅漂移探测器实验时位于SEM极靴和样品之间,在EDS测试中实现最大固体角。QUANTAX FlatQUAD 与 ESPRIT 分析软件套件相结合,即使是对于最困难的EDS样品,可以提供无与伦比的面分析性能。

  • 仅使用中等电流就可以进行极快的面分析表征
  • 可以在极低电流(<10pA)下对束流敏感材料进行分析,例如生物或半导体样品
  • 对具有粗糙表面的样品进行表征,有效避免阴影效应
  • 低kV 和高放大倍率下的纳米颗粒和纳米结构分析
  • SEM 中测量薄样品(如 TEM 薄片)和其他 X 射线产量低的样品的最佳选择

优势

最大限度地提高您的效率

Bruker XFlash® FlatQUAD 探测器独特的环形设计以及它在 SEM 极片和样品之间的位置,可带来无与伦比的固体角,直接对应为更快的测量速度。QUANTAX FlatQUAD 与 ESPRIT 软件套件一起,提供理想的仪器软硬件,用于分析最低电流才稳定的敏感样品或极为粗糙的样品。

XFlash® FlatQUAD还可以将您的 SEM 或 FIB 转换为低电压的 STEM,以更及时、更经济高效的方式实现最高的空间和光谱分辨率。

如果要从电子透明样品中获得更多信息,比如晶体学信息,可以请将 XFlash® FlatQUAD与布鲁克 EBSD 改装的 TKD 探测器结合使用。

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