无与伦比的高通量
分析敏感样品
QUANTAX FlatQUAD 是基于革命性 XFlash® FlatQUAD 的 EDS 分析系统。这种环形四通道硅漂移探测器实验时位于SEM极靴和样品之间,在EDS测试中实现最大固体角。QUANTAX FlatQUAD 与 ESPRIT 分析软件套件相结合,即使是对于最困难的EDS样品,可以提供无与伦比的面分析性能。
Bruker XFlash® FlatQUAD 探测器独特的环形设计以及它在 SEM 极片和样品之间的位置,可带来无与伦比的固体角,直接对应为更快的测量速度。QUANTAX FlatQUAD 与 ESPRIT 软件套件一起,提供理想的仪器软硬件,用于分析最低电流才稳定的敏感样品或极为粗糙的样品。
XFlash® FlatQUAD还可以将您的 SEM 或 FIB 转换为低电压的 STEM,以更及时、更经济高效的方式实现最高的空间和光谱分辨率。
如果要从电子透明样品中获得更多信息,比如晶体学信息,可以请将 XFlash® FlatQUAD与布鲁克 EBSD 改装的 TKD 探测器结合使用。