Analysesysteme für Elektronenmikroskope

QUANTAX EDS für REM

XFlash® 7 - die neue EDS Detektor Generation

Mit dem richtigen Winkel zur besseren Analyse

Schnell. Präzise. Zuverlässig.

1,000,000
cps
Bis zu 1.000.000 cps Ausgangszählrate
Bisher unerreichbare Analysegeschwindigkeiten erzielen.
> 2,200
Elementlinien
Höchst komplexe Proben mit der umfassendsten atomaren Datenbank inkl. K, L, M und N-Linien quantifizieren.
> 1.1
sr
Maximale Röntgenquantenausbeute durch größten Raumwinkel
Maximaler Probendurchsatz durch optimale Geometrie für die effizienteste Sammlung der erzeugten Röntgenquanten.

Energiedispersive Spektroskopie für REM, FIB-REM und Mikrosonde

  • Brukers neueste Generation des QUANTAX EDS beinhaltet die XFlash® 7 Detektorserie, die den größten Raumwinkel für Röntgenquanten Sammlung und höchsten Datendurchsatz bietet.
  • Der XFlash® 7 setzt weiterhin Maßstäbe in Leistung und Funktionalität bei der Energiedispersiven Röntgenspektroskopie für Rasterelektronenmikroskope (REM), Zweistrahl-/Ionenstrahlgeräte (FIB-REM) und Elektronenstrahl Mikrosonden (EPMA).
  • Die XFlash® Detektorfamilie bietet auch optimierte Lösungen für die EDS Analyse von elektronentransparenten Proben in TEM und REM, sowie den einzigartigen XFlash® FlatQUAD, einen Detektor, der entwickelt wurde, um anspruchsvollste analytische Fragestellungen zu beantworten.
  • Slim-line Technologie, bester Raumwinkel und Pulsprozessor der neuesten Generation. 
  • Optimierte Betriebszeit dank SDD-Modultausch vor Ort.
  • Höchste spektrale Leistung erzielt durch beste Energieauflösung.
  • Genauere Ergebnisse durch ausgefeilte Quantifizierungsalgorithmen und eine einzigartige Kombination aus standardfreien und standardbasierten Methoden.

Effizientere Elementanalyse

  • Durch individuell optimierte EDS-Systeme schneller zu sehr präzisen Ergebnissen.
  • Maximaler Datendurchsatz verringert Messzeit und ermöglicht Mappings und Quantifizierung bei allen Einstellungen ohne Einschränkung der Datengröße.
  • Dank der effizienten geometrischen Anpassung des Raumwinkels können nun anspruchsvollste Proben untersucht werden.
  • Quantifizierungsergebnisse werden genauer und zuverlässiger durch optimierte Geometrie, die den Untergrund minimiert und Absorption verringert.
  • Minimierter Untergrund und verringerte Absorption verbessern die Nachweisgrenze und erlauben die Detektion geringerer Elementkonzentrationen.
  • Die umfassende ESPRIT Software bildet die Analyseplattform zur nahtlose Integration von EDS, WDS, EBSD und Mikro-XRF für jedes REM, jedes FIB-REM und jede Mikrosonde.

Anwendungen der Elementanalyse mit XFlash® 7

Weitere Anwendungen des SEM EDS

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